[发明专利]一种针对谐波分量量化推算迭代的EMI诊断修复方法有效

专利信息
申请号: 201010274290.0 申请日: 2010-09-07
公开(公告)号: CN101975895A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 苏东林;倪子楠;陈文青;刘昌;白天明;马超;麻智超;魏嘉利 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 李有浩
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 针对 谐波 分量 量化 推算 emi 诊断 修复 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种EMI(Electromagnetic Interference,电磁干扰)快速诊断方法,更特别地说,是一种利用先验的谐波分量来简化测试手段,从而形成的一种针对EMI的快速诊断方法,属于电磁兼容技术测设领域。

背景技术

在多个设备协同工作的电子、电气系统中,某一设备的产生的电磁干扰会通过传导发射(CE)和辐射发射(RE)等方式耦合至另一设备上,造成另一设备的性能下降,甚至无法正常工作。随着集成电路的越来越精密化和系统设备的日益复杂化,系统对电磁兼容的要求一直受到人们的广泛关注。

在电子、电气系统中设计制造后期。会对其进行各种EMC(Electro MagneticCompatibility,电磁兼容)标准的测试,以表明该产品的电磁兼容性能合格。例如GJB152A-97《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》中有一套非常细致、详尽的测试方法。而厂家在做先期调整过程中,往往也是先完全过一遍军标涉及的指标,仿真拟合得到测试曲线后再做调整。而完全过一遍军标中列举事项需要好几天时间,进行几轮调整,需要一个漫长的过程,大大加长了产品的研发时间。

发明内容

为了能在电磁兼容调整期间内,能够快速有效地定位多个设备协同工作的电子、电气系统中EMI发射频点,本发明提出了一种基于先验谐波分量,对EMI测试的快速整改方法。在该方法中依靠对EMI产生设备的谐波发射的预先判断,对测试点做出了优先级地选择,采用量化推算迭代策略解决了在原先依照军标逐点测试针对性不强,费时费力的问题。考虑谐波发射分量与其附近的强发射值关联性强的因素,针对主导谐波EMI发射的先期调整,降低了谐波发射频段出现问题的可能性,提高了电磁兼容整改工作的针对性和有效性。

本发明的一种在已知谐波分量下的适于EMI的量化推算迭代策略的整改方法,依据该方法进行的整改包括有下列步骤:

第一步:计算GJB152A-97标准中所需测频点及其带宽Pi(f,B);

第二步:计算多个设备协同工作的电子、电气系统中的三阶谐波发射点,针对对应的所述Pi(f,B)进行测试,并对其结果进行EMI调整;

第三步:计算多个设备协同工作的电子、电气系统中的五阶谐波发射点,以及迭代包含在第二步骤中出现问题频率组合方式的的七阶谐波发射点,针对对应的所述Pi(f,B)进行测试,并对其结果进行EMI调整;

第四步:计算多个设备协同工作的电子、电气系统中的余下七阶谐波发射点,以及迭代包含在第三步骤中出现问题频率组合方式的的九阶谐波发射点,针对对应的所述Pi(f,B)进行测试,并对其结果进行EMI调整;

第五步:计算多个设备协同工作的电子、电气系统中余下九阶谐波发射点,针对对应的所述Pi(f,B)进行测试,并对其结果进行EMI调整;

第六步:对剩余非谐波的杂散波分量,采取变步长测试,进行测试并针对其结果进行EMI调整。

在本发明中,每个步骤中的电磁兼容整改包括有(a)在大功率信号输出端增加滤波器;或(b)选用线性特性更好的功率放大器;或(c)干扰设备采用良好接地措施;或(d)加强干扰设备机箱屏蔽效果。

本发明基于对测试频带内频点出现问题概率大小不同,对测试频带进行优先级区分,并螺旋式调整,其优点在于:

(1)针对EMI问题主要由谐波发射所引起的特性,集中对少量频段利用量化推算迭代策略进行测试,对电磁兼容调整更有针对性。

(2)三阶以内的谐波发射对结果影响最大,五阶次之,七阶和九阶再次之,对他们进行优先级区分,并进行边测试边调整的方式,可以对谐波影响方式更有把握。

(3)由于杂散发射与其附近谐波发射有非常大的关系,在先期对谐波发m射的多次调整中,也间接地改善了杂散发射。

(4)对出现干扰概率较低但占据绝大部分测试频带的杂散发射分量,采取粗略测试,大大加快了测试的速度。

附图说明

图1是一般干扰设备的发射频谱图。

图2是基于干扰设备的九次以内谐波发射量化示意图。

图3是本发明的三阶以内谐波测试量化示意图。

图4是本发明的五阶及部分七阶谐波测试量化示意图。

图5是本发明的七阶及部分九阶谐波测试量化示意图。

图6是本发明的余下九阶谐波测试量化示意图。

图7是本发明的杂散波变步长测试区域示意图。

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