[发明专利]光纤故障检测的系统及方法有效
| 申请号: | 201010263165.X | 申请日: | 2010-08-25 |
| 公开(公告)号: | CN101924962A | 公开(公告)日: | 2010-12-22 |
| 发明(设计)人: | 徐继东;贝劲松 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号: | H04Q11/00 | 分类号: | H04Q11/00;H04B10/08 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
| 地址: | 518057 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光纤 故障 检测 系统 方法 | ||
1.一种光纤故障检测的系统,其特征在于,包括光程检测OTDR设备、波分复用耦合器、波长选择耦合器、分光器、波长选择路由器、第二通路模块,其中:
所述OTDR设备,用于产生故障检测的光程检测信号,发送所述光程检测信号至所述波分复用耦合器;
所述波分复用耦合器,与所述OTDR设备相连,用于将所述光程检测信号导入主干光纤;
所述波长选择耦合器,与所述主干光纤相连,用于将所述光程检测信号传输至所述分光器;
所述分光器,与所述波长选择耦合器相连,用于将所述光程检测信号传输到所述波长选择路由器;
所述波长选择路由器,与所述分光器连接,用于将所述光程检测信号传输至对应的分支光纤;并接收所述分支光纤传输的光程检测反射信号,发送所述光程检测反射信号至与所述分光器并行的所述第二通路模块;
所述第二通路模块,用于将所述光程检测反射信号发送至所述波长选择耦合器;
所述波长选择耦合器,与所述第二通路模块相连,还用于将所述光程检测反射信号通过所述主干光纤发送至所述波分复用耦合器;
所述波分复用耦合器,还用于从所述主干光纤分离出光程检测反射信号,并将所述光程检测反射信号发送至OTDR设备;
所述OTDR设备,还用于根据所述光程检测反射信号判断所述主干光纤和/或分支光纤的光纤故障。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,
所述OTDR设备为可调谐OTDR设备,用于产生针对目标分支光纤的预设波长的光程检测信号,并根据所述光程检测反射信号判断所述主干光纤或所述目标分支光纤的故障;
所述第二通路模块包括列阵波导光栅AWG,所述AWG的通用口与所述波长选择耦合器相连,所述AWG的分支通道通过对应的波长选择路由器与所述目标分支光纤相连,所述AWG用于接收所述分支光纤的光程检测反射信号,并将其发送至所述波长选择耦合器;
所述OTDR设备,用于根据所述光程检测反射信号判断所述目标分支光纤的故障。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,
所述光程检测信号的预设波长个数与所述分支光纤的个数相等。
4.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,
所述AWG与环境温度无关,或
所述第二通道模块还包括:温控设备,用于保持所述AWG的稳定工作环境。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述波分复用耦合器位于OLT侧,包括:第一薄膜滤波器,
所述第一薄膜滤波器的P端口与光线路终端OLT相连,C端口与所述主干光纤相连,R端口与OTDR设备相连;
所述第一薄膜滤波器对波长在1625nm以上的光均反射,对波长在1625nm以下的光均透射。
6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述波长选择耦合器包括四接口光环行器和第二薄膜滤波器,
所述光环行器的接口1与所述第二薄膜滤波器的C接口相连,光环行器的接口2与所述主干光纤连接,光环行器的接口3与所述分光器连接,光环行器的接口4与所述第二薄膜滤波器的P接口相连;
所述第二薄膜滤波器对波长在1625nm以上的光均反射,对波长在1625nm以下的光均透射。
7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述波长选择耦合器包括两个三接口光环行器和第四薄膜滤波器,
所述第一光环行器的接口1与所述第四薄膜滤波器的C接口相连,第一光环行器的接口2与所述主干光纤连接,第二光环行器的接口2与所述分光器连接,所诉第二光环行器的接口3与所述第四薄膜滤波器的P接口相连,所诉第一光环行器的接口3与所述第二的光环行器的接口1相连;
所述第四薄膜滤波器对波长在1625nm以上的光均反射,对波长在1625nm以下的光均透射。
8.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述波长选择路由器包括四接口光环行器和第三薄膜滤波器,
所述光环行器的接口1与所述第三薄膜滤波器的P接口相连,光环行器的接口2与所述分光器连接,所述光环行器的接口3与分支光纤连接,所述光环行器的接口4与所述第三薄膜滤波器的C接口相连;
所述第三薄膜滤波器对波长在1625nm以上的光均反射,对波长在1625nm以下的光均透射。
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