[发明专利]控制透镜像质变化的方法有效
申请号: | 201010256225.5 | 申请日: | 2010-08-18 |
公开(公告)号: | CN102375344A | 公开(公告)日: | 2012-03-14 |
发明(设计)人: | 虞晔 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制 透镜 质变 方法 | ||
1.一种控制透镜像质变化的方法,其特征在于,在利用光刻机进行曝光前,对所述光刻机的透镜进行预热或预冷处理。
2.根据权利要求1所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,所述预热或预冷处理,具体包括以下步骤:
设置热平衡态的阈值Y;
判断是否进行预热或预冷;
如需预热或预冷,则根据热平衡态表征参数C和所述热平衡态的阈值Y计算出预热或预冷时间,并根据所述预热或预冷时间对所述透镜进行预热或预冷处理。
3.根据权利要求1或2所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,对所述透镜进行预热或预冷在曝光过程中每次切换掩模图像时进行。
4.根据权利要求2所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,所述热平衡态是指在前一片基底曝光完毕,下一片基底曝光时,第一个场的吸热和散热达到平衡的状态。
5.根据权利要求2所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,所述热平衡态的阈值Y为小于或等于1的正数。
6.根据权利要求5所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,所述热平衡态的阈值的取值范围是0.8≤Y≤1。
7.根据权利要求2所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,判断是否进行预热或预冷的具体步骤:
定义像质变化的约束范围;
根据当前的热效应状态标征参数,预先估算出在不预热或不预冷的条件下、曝光时的像质变化,如果该像质变化超出了所述约束范围,则需要进行预热或预冷。
8.根据权利要求2所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,计算所述热平衡态表征参数C的热效应方程为
C=(C×exp(-t3/Tau)+Mu*(1-exp(-t3/Tau))×RtTrans×WfCorr×Dose×AreaSize/t3)×exp(-t4/Tau);
其中,t3为一个曝光场的曝光时间;t4为一个曝光场曝光结束到下一个曝光场曝光开始前所经历的时间;Mu为比例因子;Tau为时间常数;RtTrans为掩模透过率;WfCorr为硅片反射率;Dose为曝光剂量;AreaSize为曝光场面积。
9.根据权利要求8所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,Cy=C×Y,其中Cy为阈值热平衡态表征参数。
10.根据权利要求9所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,根据公式:
计算预热时间
Cy/exp(-t2/Tau)=A×exp(-t1/Tau)+Mu*(1-exp(-t1/Tau))×RtTrans×WfCorr×Dose×AreaSize/t1;
计算预冷时间
Cy/exp(-t2/Tau)=A×exp(-t1/Tau);
计算出预热或预冷时间t1;预热或预冷结束到曝光开始所经历的时间t2;其中A是当前的热效应状态表征参数。
11.根据权利要求2或10所述的控制透镜像质变化的方法,其特征在于,设定处理时间阈值,当上述计算出预热或预冷时间大于或等于处理时间阈值时,进行上述预热或预冷处理。
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