[发明专利]使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法无效

专利信息
申请号: 201010248177.5 申请日: 2010-08-09
公开(公告)号: CN101915774A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 王海峰;李佳;孙国华;任玲玲 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01N25/04 分类号: G01N25/04;G01N1/32
代理公司: 北京科兴园专利事务所 11233 代理人: 王蕴;马经文
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 使用 扫描 量热仪 测定 有机物 熔点 方法
【权利要求书】:

1.一种使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法,其特征在于包括以下步骤:

1.1.选定至少两种标准物质,所述的标准物质中熔点最低的应低于待测样品的熔点,熔点最高的应高于待测样品的熔点;

1.2.用选定的标准物质校准差示扫描量热仪的温度值;然后用选定的标准物质测量仪器的热阻常数;

1.3.将待测样品充分研磨,并放入干燥器中干燥过夜;干燥后的样品封装于玻璃毛细管中;将封有样品的玻璃毛细管一端取下,置入差示扫描量热仪的坩埚中进行测定;

1.4.将测定得到的热流温度曲线的峰值温度进行热阻修正,得到有机物的全熔点。

2.根据权利要求1所述的使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法,其特征在于:步骤1.1中的标准物质,包括镓,铟,锡和铅;其中,镓的熔点为29.78℃,铟的熔点为156.61℃,锡的熔点231.88℃,铅的熔点为327.50℃。

3.根据权利要求1所述的使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法,其特征在于:所述步骤1.2中仪器校准的方法,可以按照仪器操作软件的规定进行操作,也可以直接测量标准物质的熔点,根据测量值和标准值计算温度修正值;校准时采用恒定升温速率加热,升温速率应与测量样品时一致;样品用样量为1.5mg;采用铝制坩埚作为坩埚。

4.根据权利要求1所述的使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法,其特征在于:所述步骤1.3中采用玛瑙研钵研磨样品;采用盛有五氧化二磷的干燥器干燥样品;采用铝制坩埚作为样品坩埚和参比坩埚,样品坩埚和参比坩埚的质量差小于0.2mg;从低于样品熔点的温度开始加热,使样品以恒定升温速率升温直至完全熔化,升温速率与热阻常数测量时一致。

5.根据权利要求1所述的使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法,其特征在于:所述步骤1.3中的保护气体为氮气,流速为20ml/min。

6.根据权利要求1所述的使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法,其特征在于:所述步骤1.4中的热流-温度曲线为差示扫描量热仪记录的横坐标为温度,纵坐标为热流的连续数据;峰温度是指热流信号在吸热方向上达到最大值时,横坐标所示的温度值。

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