[发明专利]光纤端面双向定位和同步测试的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试方法，特别涉及一种光纤的几何尺寸的测试方法。

背景技术

现有的光纤几何尺寸测试方法所使用的装置是两个调节架、两个透镜、一光源和一CCD，光纤从内到外包括纤芯、包层和涂覆层，光纤的近端固定在调节架上，光纤的远端固定在另一调节架上。光纤的近端端面正对一透镜，透镜的后面设置一光源。光纤的远端的端面也正对一透镜，该透镜的后面设置CCD。

在使用时，从光源发出光线通过透镜到达光纤近端端面，从而通过光纤的纤芯传输到光纤的远端。光线再经过透镜，投射到CCD上。在CCD上形成两个同心的圆，里面的圆斑为纤芯传输的光纤，外面的圆为最外层的涂覆层的轮廓线。这样，通过测量CCD的成像尺寸就可以测量光纤包层直径、光纤涂覆层直径、光纤纤芯直径及相关参数。

测量包层的外圆直径时，需要将光纤外层的涂覆层剥除。剥除涂覆层的光纤称为裸光纤。将裸光纤的近端和远端分别设置在调节架上，按上述操作方法在CCD上可以得到裸光纤端面的像和经过光源照亮的光纤纤芯的像。从而可以测得包层的外圆直径。

该测试方法虽然能够测量光纤各层直径的尺寸，但测试需要在两个机构上进行测试，或在改变透镜倍数的情况下在一个机构上进行测试。现有的测量装置不能一次测试光纤的全部几何尺寸，对光纤注入端无法监视和精确控制注入光的能量。测试涂覆层时，由于光学系统的变化对校准产生一定的难度。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种能在一个装置上进行双向定位和同步完成裸光纤和带涂覆层光纤几何参数测试的测试方法。

为解决上述技术问题，本发明光纤端面双向定位和同步测试的测试方法，包括以下步骤：

第一，将近端裸光纤端面固定在近端调节架上，远端涂覆层端面固定在远端调节架上；

第二，正对所述光纤的近端设置近端反射镜和近端光源，所述近端反射镜可升降，正对所述光纤的远端设置远端反射镜和远端光源，所述远端反射镜可升降并可旋转；

第三，所述近端反射镜和所述远端反射镜之间设置可旋转的中间反射镜，所述中间反射镜的后面设置CCD；

第四，调节所述近端调节架和所述远端调节架的位置，使所述近端调节架与所述近端光源在一条直线上，使所述远端调节架与所述远端光源在一条直线上；

第五，降下所述近端反射镜，使所述近端反射镜不阻挡所述近端光源至所述光纤的近端的光，调节所述远端反射镜和所述中间反射镜的角度，使所述光纤的远端成像在所述CCD上；

第六，升起所述近端反射镜，降下所述远端反射镜，使所述远端反射镜不阻挡所述远端光源至所述光纤的远端的光，调节所述近端反射镜和所述中间反射镜的角度，使所述光纤的近端成像在所述CCD上。

优选地，在第五步中，调节所述远端调节架的位置，使所述光纤的远端在所述CCD上的成像清晰。

优选地，在第六步中，调节所述近端调节架的位置，使所述光纤的近端在所述CCD上的成像清晰。

优选地，所述远端调节架与所述远端反射镜之间设置远端透镜。

优选地，所述近端调节架与所述近端反射镜之间设置近端透镜。

优选地，所述远端反射镜与所述远端光源之间设置第二远端透镜。

优选地，所述近端反射镜与所述近端光源之间设置第二近端透镜

优选地，所述第四步中，通过观察所述CCD上的成像来调整所述远端调节架和所述近端调节架的位置。

优选地，所述第四步之后，在所述远端调节架上设置标准光纤，然后测量所述CCD上成像的标准尺寸，从而得到待测光纤的尺寸与所述CCD所述待测光纤成像的尺寸的比例关系。

本发明通过上述步骤能够对裸光纤的端面和涂覆层的端面同步进行测试。同时，本发明还可实现对光线注入端的光纤位置的精确定位，提高与纤芯有关参数的准确性。通过观察注入端光纤的纤芯在CCD上的成像，可调整注入端的精确位置。

本发明还可分别对裸光纤端面和涂覆层端面的成像光路进行标定校准，提高测试精度。在对注入端光纤进行精确定位后，先在调节架上设置标准光纤，测量CCD上成像的标准尺寸，标准光纤的尺寸参数已知，从而可得到待测光纤的尺寸与CCD成像的尺寸的比例关系。

附图说明

图1是现有的测量光纤的纤芯、包层和涂覆层尺寸的装置。

图2是本发明所使用的装置的结构图。

图3是近端反射镜上升的光路图。

图4是远端反射镜上升的光路图。

附图标记如下：

1、光纤         42、远端透镜