[发明专利]显示装置、光检测方法和电子装置

说明书

技术领域

本发明涉及其中在像素电路中使用如例如有机电致发光器件(有机EL器件)的自发光器件的显示装置和电子装置，以及用于在像素电路中提供的光检测部分的光检测方法。

背景技术

在其中有机电致发光(EL：电致发光)发光元件用作像素的有源矩阵型的显示装置中，流到每个像素电路中的发光元件的电流通过有源器件(通常，在每个像素电路中提供的薄膜晶体管(TFT))控制。由于有机EL器件是电流发光元件，因此通过控制流到EL器件的电流量来获得色彩形成的灰度。

具体地，在包括有机EL器件的像素电路中，对应于施加的信号值电压的电流提供到有机EL器件，以根据信号值执行灰度的发光。

在使用自发光器件的显示装置(如使用如上所述的这种有机EL器件的显示装置)中，抵消像素之间的发光亮度的分散以消除屏幕上出现的不一致是重要的。

尽管像素之间的发光亮度的分散在面板制造时的初始状态下也出现，但是该分散由依赖于时间的变化导致。

随时间经过，有机EL器件的发光效率劣化。具体地，即使相同电流流动，发光亮度也随时间经过一起劣化。

结果，如果在黑色背景上显示白色窗口图案、然后在全屏上显示白色，例如如图37A所示，则屏幕烧坏，然后显示窗口图案的部分的亮度降低。

针对如上所述的这种情况的对策在JP-T-2007-501953或JP-T-2008-518263(此后分别称为专利文献1和2)中公开。具体地，专利文献1公开了一种装置，其中在每个像素电路中布置光传感器，并且将光传感器的检测值反馈到该系统以校正发光亮度。专利文献2公开了一种装置，其中检测值从光传感器反馈到系统，以执行发光亮度的校正。

发明内容

本发明贯注于这样的显示装置，其中对像素电路提供用于检测来自像素电路的发光元件的光的光检测部分。实现该显示装置，其中根据由光检测部分检测的光量信息校正信号值，以防止如上所述的这种屏幕烧坏。本发明还提供了一种光检测部分，其可以以高精度执行检测，并且可以从少量元件和少量控制线来配置。

根据本发明实施例，提供了一种显示装置，包括：

多个像素电路，其以矩阵布置在多个信号线和多个扫描线相互交叉的位置，并分别包括发光元件；

发光驱动部分，用来将信号值施加到每个所述像素电路，以使得像素电路发出对应于信号值的亮度的光；以及

光检测部分，包括光检测元件，其通过将光检测元件在导通状态和截止状态之间切换而起作用为切换元件，并且在截止状态下起作用为检测来自像素电路的发光元件的光的光传感器，所述光检测部分还包括在光检测部分中形成的检测信号输出电路，用于输出来自光检测元件的光检测信息。

根据本发明另一实施例，提供了一种用于显示装置的光检测方法，该显示装置包括具有发光元件的像素电路、和用于检测来自像素电路的发光元件的光并输出光检测信息的光检测部分，所述方法包括步骤：在所述传感器-开关兼用元件处于截止状态时，输出对应于流到传感器-开关兼用元件的电流的变化量的光检测信息，所述传感器-开关兼用元件通过在导通状态和截止状态之间切换而起作用为切换元件，并且在截止状态下起作用为检测来自像素电路的发光元件的光的光传感器，并且所述传感器-开关兼用元件提供在光检测部分中。

根据本发明另一实施例，提供了一种电子装置，包括：多个像素电路，其以矩阵布置在多个信号线和多个扫描线相互交叉的位置，并分别包括发光元件；发光驱动部分，用来将信号值施加到每个所述像素电路，以使得像素电路发出对应于信号值的亮度的光；以及光检测部分，包括传感器-开关兼用元件，其通过将传感器-开关兼用元件在导通状态和截止状态之间切换而起作用为切换元件，并且在截止状态下起作用为检测光的光传感器，所述光检测部分还包括在光检测部分中形成的检测信号输出电路，用于输出来自所述传感器-开关兼用元件的光检测信息。

根据本发明另一实施例，提供了一种显示装置，包括：像素电路，包括发光元件；以及光检测部分，包括光检测晶体管、检测信号输出晶体管和电源线。所述光检测晶体管连接在所述检测信号输出晶体管的栅极和所述电源线之间。所述检测信号输出晶体管根据到栅极的电势，变化在漏极和源极之间流动的电流。第一电势提供到所述电源线，并且还通过所述光检测晶体管提供到所述检测信号输出晶体管的栅极。在所述光检测晶体管置于第二状态内的检测时段内，第二电势提供到所述电源线，同时所述检测信号输出晶体管的栅极电势响应于所述发光元件的光朝向第二电势变化。