[发明专利]显示装置和驱动控制方法有效
申请号: | 201010174008.1 | 申请日: | 2010-05-06 |
公开(公告)号: | CN101887686A | 公开(公告)日: | 2010-11-17 |
发明(设计)人: | 尾本启介;富田昌嗣 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 周少杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 驱动 控制 方法 | ||
技术领域
本发明涉及显示装置和驱动控制方法,并且具体涉及降低显示装置的功耗的显示装置和驱动控制方法。
背景技术
近年来,使用有机电致发光(EL)元件作为发光元件的平面自发光型的面板已经并且正在积极发展。有机EL元件具有二极管特性,并且利用这样的现象:如果施加电场到有机薄膜,则有机薄膜发光。因为有机EL元件是其功耗低的自发光元件,因为其通过施加的小于或等于10V的电压驱动,并且其自身发光。因此,有机EL元件具有这样的特性,其不需要照明部件,并且易于降低重量和厚度。此外,因为有机EL元件的响应速度高至大约几μs,所以EL面板具有在显示动态图像时不出现余像的优点。
在各种EL面板中,正在积极发展有源矩阵型的面板,其中在每个像素中以集成状态形成作为驱动元件的薄膜晶体管(TFT)。例如,在日本专利公开No.2003-255856、2003-271095、2004-133240、2004-029791和2004-093682中公开了有源矩阵EL面板。
顺便提及,公知的是有机EL元件的电流-电压特性(即,I-V特性)随着时间经过而劣化,或者换句话说,遭受依赖于时间的劣化。在N沟道TFT具体用作用于电流驱动有机EL元件的驱动晶体管的像素电路中,如果有机EL元件的I-V特性遭受依赖于时间的劣化,则驱动晶体管的栅极-源极电压Vgs变化。因为驱动晶体管的源极电极侧连接到有机EL元件,所以有机EL元件的发光亮度通过驱动晶体管的栅极-源极电压Vgs的变化而变化。
更具体地进行描述。在有机EL元件连接到驱动晶体管的源极电极侧的情况下,驱动晶体管的源极电势依赖于驱动晶体管和有机EL元件的操作点。
图1A和1B分别图示驱动晶体管和有机EL元件的操作点。参照图1A和1B,横坐标轴指示驱动晶体管的漏极-源极电压Vds,并且纵坐标轴指示驱动晶体管的源极-漏极电流Ids。
在初始状态,驱动晶体管和有机EL元件具有在图1A图示位置处的操作点。然后,如果有机EL元件的I-V特性劣化,则因为驱动晶体管和有机EL元件的操作点如图1B所示变化,所以即使施加相同的电压到驱动晶体管的栅极电极,驱动晶体管的源极电势也变化。这改变了驱动晶体管的源极-栅极电压Vgs,因此,流到驱动晶体管的电流值变化。结果,流到有机EL元件的电流值也变化,因此,有机EL元件的发光亮度变化。
此外,特别在使用多晶TFT的像素电路中,除了有机EL元件的I-V特性的依赖于时间的劣化外,驱动晶体管的晶体管特性随着时间经过而劣化,或者由于制造工艺中的分散(dispersion)导致不同像素间晶体管特性不同。具体地,各个像素指示驱动晶体管的晶体管特性的分散。晶体管特性可能是驱动晶体管的阈值电压Vth、形成驱动晶体管的沟道的半导体薄膜的迁移率μ等。应该注意,如上所述的这种迁移率μ以下简称为“驱动晶体管的迁移率μ”。
驱动晶体管的晶体管特性可以由以下表达式(1)表示:
其中Ids代表驱动晶体管的源极-漏极电流,Vgs代表驱动晶体管的栅极-源极电压,L代表沟道长度,W代表栅极宽度,并且Cox代表每单位面积的栅极氧化膜电容。
如果不同像素间驱动晶体管的阈值电压Vth或迁移率μ不同,则如从表达式(1)明显认识到,对于每个像素,在流到驱动晶体管的源极-漏极电流Ids中出现分散。结果,即使在不同像素间施加相同电压到驱动晶体管的栅极电极,在各像素间也出现有机EL元件的发光亮度的分散。这破坏了屏幕图像的一致性。
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