[发明专利]用于流量计的校验诊断的仪表电子器件和方法

权利要求书

1.用于流量计(5)的仪表电子器件(20)，该仪表电子器件(20) 包括用于接收来自流量计(5)的三个或更多个振动响应的接口(201)， 其中该三个或更多个振动响应包括基本基频响应和两个或更多个非 基频响应；以及与接口(201)通信的处理系统(203)，其中该仪表 电子器件(20)进一步包括：

处理系统(203)被布置成接收来自接口(201)的该三个或更多 个振动响应，从该三个或更多个振动响应产生一阶或更高阶极点-残 数频率响应函数，并从该一阶或更高阶极点-残数频率响应函数确定 至少刚度参数K。

2.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中处理系统(203)被 进一步布置成从该一阶或更高阶极点-残数频率响应函数确定阻尼参 数C。

3.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中处理系统(203)被 进一步布置成从该一阶或更高阶极点-残数频率响应函数确定质量参 数M。

4.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中处理系统(203)被 进一步布置成从该一阶或更高阶极点-残数频率响应函数计算极点 λ，左残数R_L和右残数R_R。

5.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中该三个或更多个振 动响应包括高于基频响应的至少一个音调和低于基频响应的至少一 个音调。

6.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中该三个或更多个振 动响应包括高于基频响应的至少两个音调和低于基频响应的至少两 个音调。

7.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中该一阶或更高阶极 点-残数频率响应函数包括一阶极点-残数频率响应函数。

8.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中该一阶或更高阶极 点-残数频率响应函数包括一阶极点-残数频率响应函数，该一阶极点 -残数频率响应函数包括其中R项 包括残数，λ项包括极点并且ω项包括圆形激励频率。

9.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中该一阶或更高阶极 点-残数频率响应函数包括一阶极点-残数频率响应函数，该一阶极点 -残数频率响应函数包括并且其中 依据等式M＝1/2jRω_d，K＝(ω_n)²M和C＝2ζω_nM确定刚度参数K，阻尼 参数C和质量参数M，其中M项包括质量参数，ζ项包括衰减特性， ω_n项包括固有频率，并且ω_d项包括阻尼固有频率。

10.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中该一阶或更高阶极 点-残数频率响应函数包括二阶极点-残数频率响应函数。

11.权利要求1的仪表电子器件(20)，其中该一阶或更高阶极 点-残数频率响应函数包括二阶极点-残数频率响应函数，该二阶极点 -残数频率响应函数包括其中M项 包括质量参数，C项包括阻尼参数，K项包括刚度参数，并且ω项包 括圆形激励频率。