[发明专利]转接元件的测试模块

说明书

技术领域

本发明是有关于一种测试模块，特别是有关于一种转接元件的测试模块。

背景技术

图1绘示已知技术的测试转接元件的方块示意图。由于目前服务器的PCI-E插槽800的连接规格尚未直接与支持行动PCI Express模块(Mobile PCIExpress Module MXM)的高阶PCI-E适配卡700(例如高阶的绘图适配卡或视频图像适配卡)。因此需要将高阶PCI-E适配卡700插接于一转接元件200上，再由此转接元件200连接服务器的PCI-E插槽800，作为高阶PCI-E适配卡700与服务器交换信号之桥梁。

在配备有此种高阶PCI-E适配卡700的服务器出货前，都必须确保转接元件200的质量，避免提高后续的维修成本及售后服务成本。目前此种转接元件200的测试方式仍是将一高阶PCI-E适配卡700的实物产品安装至一待测转接元件200，再将待测转接元件200插接于一测试服务器的PCI-E插槽800。待使得测试服务器开机后，测试服务器才能对待测转接元件200进行电源及信号的测试，才可得知此待测转接元件200是否合格。

然而，利用测试服务器来对转接元件进行功能测试时，存在以下缺点：

1、搭配测试服务器对转接元件进行功能测试时，存在着大量的人机交互测试工作，不仅效率低，也常因为人为判断的误差而造成测试失败。

2、搭配测试服务器对转接元件进行功能测试时，由于每次测试都必须将高阶PCI-E适配卡、待测的转接元件及PCI-E插槽重新安装，相当耗费人力及时间。

3、搭配测试服务器对转接元件进行功能测试时，配合服务器的启动，需要一固定的开机时间，进而拉长转接元件的整体测试时间，进而影响生产成本及产品质量。

4、搭配高阶PCI-E适配卡的实物产品对转接元件进行功能测试时，由于高阶PCI-E适配卡的功能强大，因此目前在市场上的价格相当昂贵，因此，若上述的转接元件为不良品时，往往会伤害高阶PCI-E适配卡或服务器，造成重大价值的损失。

如此，如何研发出一种解决方案，可克服上述种种不便及缺点，实乃相关业者目前刻不容缓的一重要课题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于揭露一种转接元件的测试模块。此种测试模块包括一待测的转接元件、一仿真卡及一侦错板。此转接元件适于转接一高阶PCI-E适配卡(Peripheral Component Interconnect Express)至一服务器的一PCI-E连接插槽上。仿真卡活动地插设于转接元件上，电性连接转接元件。侦错板分别电性连接转接元件与仿真卡，并与转接元件及仿真卡之间形成一回路。侦错板通过传递于回路中的测试信号，以判断转接元件是否异常。

本发明的一实施例中，仿真卡具有多个印刷线路，此些印刷线路相同于此高阶PCI-E适配卡的线路。

本发明的一实施例中，此测试模块还包含一测试计算机，测试计算机电性连接侦错板，用以指示侦错板进行测试，并接受侦错板传回转接元件是否异常的判断结果。

本发明的一实施例中，此测试模块还包含一供应电源，供应电源电性连接转接元件，用以提供转接元件所需的工作电源。

本发明的一实施例中，侦错板具有一微处理单元，微处理单元具有一第一通用输入输出接口，用以输出一测试信号至该转接元件、一第二通用输入输出接口，用以接收自该仿真卡所回传的一回传信号、一内部集成电路接口，用以读取该转接元件的一电子抹除式可复写只读存储器的信息及一仿真输出入接口，用以读取该转接元件的一电源运行状态。

本发明的一实施例中，侦错板具有一符合PCI-E规格的连接部，连接部连接至转接元件。

综上所述，本发明的测试模块透过上述的各种信息传输接口即可得知转接元件是否异常，使得转接元件不需搭配服务器即可进行测试。如此，本发明具有以下优点：

1、简化了人机交互测试工作，进而提高效率，也降低人为判断的误差而造成测试失败的机率。

2、缩短了对转接元件进行测试的整体测试时间，进而改善生产成本及产品质量。

3、节省了取得测试服务器所需的硬件取得成本以及避免伤害高阶PCI-E适配卡的实体产品或服务器的风险。

附图说明

为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的详细说明如下：

图1绘示已知技术以服务器测试转接元件的方块示意图；

图2绘示本发明转接元件的测试模块的方块示意图；

图3绘示本发明转接元件的测试模块在一实施例下的方块示意图；

图4绘示本发明测试转接元件的方法在此实施例下的流程图。