[发明专利]基于统计学及遍历性理论的判断多相混合均匀性的方法无效
申请号: | 201010140233.3 | 申请日: | 2010-04-07 |
公开(公告)号: | CN101822957A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 朱道飞;王华;徐建新;王仕博;孙辉 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学 |
主分类号: | B01F7/20 | 分类号: | B01F7/20 |
代理公司: | 昆明今威专利代理有限公司 53115 | 代理人: | 赛晓刚 |
地址: | 650093 云南省昆明*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 统计学 遍历性 理论 判断 多相 混合 均匀 方法 | ||
1.一种判断多相混合均匀性的方法,其特征在于:该方法采用统计学及遍 历性理论来判断多相混合均匀性,具体步骤为:
(1)在混合过程中放入搅拌槽内一个区别于周围其它物质且不跟任何物质 发生化学反应的示踪颗粒作为研究对象;
(2)利用电子断层成像技术EPT,来获得多相混合过程中任一个断层的连续 的搅拌实时图样;
(3)根据断层面的尺寸大小,将获得的多相混合过程中该断层的连续的搅拌 实时图样进行网格划分,一般划分为n2个区域,n为自然数,并对其编号1-n2;
(4)运用统计学的方法计算示踪颗粒在一定时间内经过1~n个区域中每一个 区域的次数,然后根据穿过1-n2个区域的总次数计算该示踪颗粒穿过每一个区域 中的概率P,记作Pi,i=1,2,3……n;
(5)借助混合遍历性理论,若经历充分的混合时间t后,Pi的数值大小相等或 者Pi的标准差充分的小即趋近于0,若画出标准差的变化曲线图,则在t时刻后, 标准差就几乎为零且往后的时间几乎保持不变,则表示多相混合在t时刻之后达 到混合均匀的状态;
示踪颗粒的选择必须满足异于周围的任何物体,其中密度必须不同于周围 物体,形状是球形便于捕捉。
2.根据权利要求1所述的判断多相混合均匀性的方法,其特征在于:所述 电子断层成像技术EPT,包括:电阻断层成像系统ERT、电容断层成像系统ECT和 电磁断层成像系统EMT三类。
3.根据权利要求1所述的判断多相混合均匀性的方法,其特征在于:混 合过程中获得断连续的搅拌实时图样进行网格划分时,区域的划分原则是根据图 样和示踪颗粒大小、混合均匀性判断精度要求来确定n的取值大小。
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