[发明专利]一种准循环低密度奇偶校验码的构造方法

权利要求书

1.一种准循环低密度奇偶校验码的构造方法，其特征是，它所构造的准循环LDPC码的校验矩阵H(J，K，Z)＝[H_mzH_{8_3}]是满秩的，共J×Z行，K×Z列，其中J、K和Z均为大于3的正整数，该矩阵由两个部分构成：环长为6且列重为3的满秩准循环方阵H_mz和环长为8且列重为3的准循环矩阵H_{8_3}，其中准循环方阵H_mz包含J×Z行和J×Z列，由J×J个维数为Z×Z的循环移位方阵构成；准循环矩阵H_{8_3}包含J×Z行和(K-J)×Z列，由J×(K-J)个维数为Z×Z的循环移位方阵构成；构造的准循环LDPC码的码长为K×Z，码率为(K-J)/K。

2.根据权利要求1所述准循环低密度奇偶校验码的构造方法，其特征是，所述环长为6列重为3的满秩准循环方阵H_mz由列重为3且环长为6的满秩循环移位方阵P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)和全零方阵P₀组合而成，且H_mz的基矩阵是维数为J×J的单位阵I，即P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)中的下标满足i＝j，其中，P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)和P₀的维数为Z×Z；i和j均为正整数，且1≤i≤J，1≤j≤J。

3.根据权利要求2所述准循环低密度奇偶校验码的构造方法，其特征是，所述列重为3的循环移位方阵P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)是满秩的，它由三个单位置换阵P₁(a_i，j)、P₁(b_i，j)和P₁(c_i，j)在二元域上加和而成，所述三个单位置换阵的偏移因子a_i，j、b_i，j和c_i，j互不相等，且有0≤a_i，j＜b_i，j＜c_i，j＜Z；其中，偏移因子a_i，j、b_i，j和c_i，j为正整数；置换阵P₁(a_i，j)、P₁(b_i，j)、P₁(c_i，j)和单位阵I的维数均为Z×Z，i和j均为正整数，且1≤i≤J，1≤j≤J。

4.根据权利要求3所述准循环低密度奇偶校验码的构造方法，其特征是，所述满秩的循环移位方阵P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)中的三个偏移因子a_i，j、b_i，j和c_i，j满足下述条件：由偏移因子a_i，j、b_i，j和c_i，j确定的二元域上多项式1+X^AB(i，j)+X^AC(i，j)不能整除1+X^z，

其中，Z为方阵P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)的行(列)数；0≤a_i，j＜b_i，j＜c_i，j＜Z，AB(i，j)＝b_i，j-a_i，j，AC(i，j)＝c_i，j-a_i，j；i，j均为正整数，且1≤i≤J，1≤j≤J。