[发明专利]一种高性能LED恒流驱动电路无效

专利信息
申请号: 201010130793.0 申请日: 2010-03-23
公开(公告)号: CN102202442A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 张怀东 申请(专利权)人: 上海丰芯微电子有限公司
主分类号: H05B37/02 分类号: H05B37/02
代理公司: 上海世贸专利代理有限责任公司 31128 代理人: 严新德
地址: 201400 上海市奉贤区南*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 性能 led 驱动 电路
【说明书】:

技术领域:

发明涉及电学领域,尤其涉及电子电路,特别是一种高性能LED恒流驱动电路。

背景技术:

现有技术中,LED恒流驱动电路中的驱动MOS管采用高压工艺时,需要利用可控硅或者高压MOS管做静电放电保护(ESD保护)。采用可控硅或者高压MOS管时,工艺均较复杂,也浪费芯片面积,且驱动MOS管长期工作的可靠性不理想。

发明内容:

本发明的目的在于提供一种高性能LED恒流驱动电路,所述的这种高性能LED恒流驱动电路要解决现有技术中采用可控硅或者高压MOS管为LED恒流驱动电路中的驱动MOS管做静电放电保护方法中工艺复杂、浪费芯片面积、长期工作可靠性不理想的技术问题。

本发明的这种高性能LED恒流驱动电路由一个高压驱动MOS管、一个低压恒流MOS管和一个ESD保护电路构成,其中,所述的高压驱动MOS管的源端与所述的低压恒流MOS管的漏端连接,低压恒流MOS管的源端与地电位连接,所述的ESD保护电路由低压器件构成,所述的ESD保护电路的一端与高压驱动MOS管的漏端连接,ESD保护电路的另一端与地电位连接。

进一步的,所述的ESD保护电路由低压MOS管、或者由低压CMOS工艺实现的二极管或三极管或场管、或者由击穿电压低于高压驱动MOS管的耐压稳压二极管构成。

具体的,本发明中所述的低压MOS管、或者由低压CMOS工艺实现的二极管或三极管或场管、或者由击穿电压低于高压驱动MOS管的耐压 稳压二极管均采用现有技术中的公知技术,有关上述公知技术方案,本领域的技术人员均已了解,在此不再赘述。

本发明的工作原理是:高压驱动MOS管特有的PN结比较深,电流相对较分散,PN结局部温度相对较不会过高;高压驱动MOS管击穿电压高,低压器件构成的ESD保护电路的击穿电压低,更易实现对高压驱动MOS管的ESD保护,以提高LED恒流驱动电路的可靠性,及长期工作的稳定性。同时,低压器件构成的ESD保护电路本身面积小,实现成本较低。

本发明和已有技术相比较,其效果是积极和明显的。本发明利用低压器件构成的ESD保护电路,击穿电压低,更易实现对高压驱动MOS管的ESD保护,以提高LED恒流驱动电路的可靠性,及长期工作的稳定性。同时,低压器件构成的ESD保护电路本身面积小,实现成本较低。

附图说明:

图1是本发明的一种高性能LED恒流驱动电路的原理示意图。

图2是本发明的一种高性能LED恒流驱动电路的一个实施例的示意图。

图3是本发明的一种高性能LED恒流驱动电路的另一个实施例的示意图。

图4是本发明的一种高性能LED恒流驱动电路的又一个实施例的示意图。

具体实施方式:

实施例1:

如图1所示,本发明的一种高性能LED恒流驱动电路,由一个高压驱动MOS管1、一个低压恒流MOS管2和一个ESD保护电路3构成,其中,所述的高压驱动MOS管1的源端与所述的低压恒流MOS管2的漏端连接,低压恒流MOS管2的源端与地电位连接,所述的ESD保护电路3由低压器件构成,所述的ESD保护电路3的一端与高压驱动MOS管1的漏端连接,ESD保护电路3的另一端与地电位连接。

进一步的,所述的ESD保护电路3由低压MOS管、或者由低压CMOS工艺实现的二极管或三极管或场管、或者由击穿电压低于高压驱动MOS管1的耐压稳压二极管构成。

具体的,本发明中所述的低压MOS管、或者由低压CMOS工艺实现的二极管或三极管或场管、或者由击穿电压低于高压驱动MOS管1的耐压稳压二极管均采用现有技术中的公知技术,有关上述公知技术方案,本领域的技术人员均已了解,在此不再赘述。

如图2所示,ESD保护电路3由一个低压MOS管构成。

如图3所示,ESD保护电路3由一个低压NPN三极管构成。

如图4所示,ESD保护电路3由一个低压二极管构成。

本发明的工作过程是:高压驱动MOS管1特有的PN结比较深,电流相对较分散,PN结局部温度相对较不会过高;高压驱动MOS管1击穿电压高,低压器件构成的ESD保护电路3的击穿电压低,更易实现对高压驱动MOS管1的ESD保护,以提高LED恒流驱动电路的可靠性,及长期工作的稳定性。同时,低压器件构成的ESD保护电路3本身面积小,实现成本较低。

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