[发明专利]混合集成电路DC/DC变换器可靠性快速评价方法无效
申请号: | 201010130640.6 | 申请日: | 2010-03-22 |
公开(公告)号: | CN101795060A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
发明(设计)人: | 李志国;马卫东;呂长志 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | H02M3/00 | 分类号: | H02M3/00 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 刘萍 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 混合 集成电路 dc 变换器 可靠性 快速 评价 方法 | ||
技术领域
混合集成电路DC/DC变换器可靠性快速评价方法,属于混合集成电路 技术领域,涉及一种评价混合集成电路性能的方法。
背景技术
目前,在可靠性评价技术中多采用加速寿命试验,采用的标准是美军 标MIL-STD-883E和国军标GJB548A-96及混合集成电路通用规范 GJB2438A-2002相关条款:方法1016寿命/可靠性试验。该方法根据 Arrhenius方程,在三个以上温度点进行恒定电应力的加速寿命试验,以确 定微电子器件的寿命特征,寿命加速特征,失效率水平。其存在的主要问 题是试验周期长(5000hr以上),成本高,所需样品多;
发明内容
本发明的目的在于提供一种混合集成电路DC/DC变换器可靠性评价方 法来解决上述方法试验周期长,成本高,所需样品多等缺陷。
本发明的混合集成电路DC/DC变换器可靠性快速评价方法,其特征在于, 包括以下步骤:
1)先用红外法或电学法测量混合集成电路DC/DC变换器在正常 工作状态(V0=15V,常温)下的壳温,用T0表示;打开管壳用红外法或 电学法测量变压的温度,用T1表示;然后用温度T1减去壳温T0即为该 正常工作状态下变换器的焦耳热温升,用ΔT1表示;
变压器磁性材料导磁率为零时的居里点温度为230℃,故本方 法的最高试验温度为(230℃-ΔT1)
2)选取(230℃-ΔT1)以下的温度范围,例加75℃至160℃,采 用序进温度应力加速寿命试验法:对混合集成电路DC/DC变换器进行 工作状态(输出电压V0=15V)下的升温速率为β的温度斜坡试验,得到 失效敏感参数P退化量(如输出电压V0)ΔP随温度升温的退化数据, 这里温度可用混合集成电路DC/DC变换器某一时刻的壳温T0t代表,则 某一试验时刻的壳温为T0t=T0+βt,并绘制成曲线,如图1所示;
3)求出失效激活能Q
设混合集成电路DC/DC变换器失效敏感参数P在工作状态(V0=15V) 下的退化速率为它与温度T遵从如下关系:
式中Q为失效激活能,k为波尔兹曼常数,A为常数;
通过试验得到两个相近但不同温度段(如图1中t1、t2、t3、t4所示) 失效敏感参数P的退化量ΔP1和ΔP2(如图1中ΔP1和ΔP2所示),可 得到如下关系式:
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