[发明专利]一种用于转轴键槽对称度的测量装置和测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量装置，具体涉及一种用于转轴键槽对称度的测量 装置和测量方法。

背景技术

轴类零件上往往需要加工键槽，有些键槽技术要求比较高，具有对称 度要求，通常键槽对称度可通过专门的测量仪器进行检测，还有可用加工键 槽的机床进行间接检测。专门的测量仪器进行检测自然检测精度比较高，购 买成本较高，并且具有一定使用环境，检测条件苛刻，一般的生产厂家不具 备这样的检测条件；如用加工键槽的机床进行检测，则因机床本身具有误差， 测量出来的数据不能完全正确地反映出键槽的实际对称度，存在一定的误 差，还有检测时需占用机床，检测成本非常高。

发明内容

为了克服上述的现有技术的不足，本发明旨在提供一种用于转轴键槽对 称度的测量装置和测量方法，它能够简便、准确地检测轴上的键槽对称度， 以提高大型转轴键槽对称度测量精度和测量工作的效率，降低测量工作的成 本。

实现上述目的的一种技术方案是：一种用于转轴键槽对称度的测量装 置，包括尺杆、测量滑枕、支架、百分表或千分表，其中：

所述尺杆由横尺杆和垂直连接在横尺杆一端的直尺杆构成，呈倒置的L 形；

所述测量滑枕可横移动地安装在所述尺杆的横尺杆上，并通过一第一锁 紧螺钉锁定在所述尺杆的横尺杆上；

所述支架可上下移动地安装在所述尺杆的直尺杆上，并通过一第二锁紧 螺钉锁定在所述尺杆的直尺杆上；

所述百分表或千分表通过第三锁紧螺钉安装在所述支架上。

上述的用于转轴键槽对称度的测量装置，其中：所述横尺杆和直尺杆的 表面上均设有尺寸刻度。

实现上述目的的另一种技术方案是：一种用于转轴键槽对称度的测量方 法，执行于上述的测量装置，所述测量方法包括以下步骤：

步骤一，选择宽度略小于所述转轴键槽宽度的测量滑枕；

步骤二，先保持所述的转轴键槽垂直向上，接着将测量滑枕插在转轴键 槽中，并将测量滑枕靠在转轴键槽的近所述的直尺杆一侧的槽边，测量滑枕 的底边抵在转轴键槽的底边上；

步骤三，先水平移动横尺杆并同时上下移动所述支架，使所述百分表或 千分表的测量头对准转轴的水平中心线上的外圆切点，接着把测量滑枕和支 架分别锁定在尺杆的横尺杆和直尺杆上，此时读取并记录百分表或千分表上 的测量值，完成第一次测量；

步骤四，保持测量滑枕和支架的位置并将测量装置沿水平方向旋转180 °，再将所述测量滑枕靠在转轴键槽中的另一侧槽边，测量滑枕的底边抵在 转轴键槽的底边上，此时读取并记录百分表或千分表上的测量值，完成第二 次测量；

步骤五，将第一次测量值与第二次测量值进行算术平均，便可得到所述 转轴键槽的对称度的准确测量值。

采用了本发明的用于转轴键槽对称度的测量装置和测量方法的技术方 案后，能够简便、准确地检测转轴上的键槽对称度，且方法简单，通用性非 常大，检测时不占用机床，任何时间都可检测，属直接测量法，使用成本非 常低，使得大型和特大型转轴键槽对称度的测量精度大有提高，其测量精度 可提高80％以上，使产品质量有保证。

附图说明

图1是本发明的用于转轴键槽对称度的测量装置的结构示意图。

具体实施方式

为了能更好地对本发明的技术方案进行理解，下面通过具体的实施例并 结合附图进行详细的说明。

请参阅图1，本发明的用于转轴键槽对称度的测量装置，包括尺杆2、 测量滑枕3、支架4及百分表或千分表5，其中，

尺杆2由横尺杆21和垂直连接在横尺杆21一端的直尺杆22构成，呈 倒置的L形；尺杆2的横尺杆21和直尺杆22上均设有尺寸刻度23，

测量滑枕3可横移动地安装在尺杆2的横尺杆21上，并通过一第一锁 紧螺钉30锁定在尺杆2的横尺杆21上；

支架4可上下移动地安装在尺杆2的直尺杆22上，并通过一第二锁紧 螺钉40锁定在尺杆2的直尺杆22上；

百分表或千分表5通过第三锁紧螺钉50安装在支架4上。

本发明的用于转轴键槽对称度的测量方法包括以下步骤：

步骤一，选择宽度略小于转轴键槽10宽度的测量滑枕3；