[发明专利]同轴连接器

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求于2008年12月24日提交的日本专利申请No.2008-327309的优先权，该申请的全部内容通过引用并入本文。

技术领域

本发明涉及同轴连接器。

背景技术

日本待审公开的实用新型申请No.60-123666公开了用于检测装置中的同轴活动触头端子851，如图19所示。同轴活动触头端子851包括中央导体852和具有普通圆柱形且环绕中央导体852的外导体861。如图20所示，端子851由可相对于目标电路板801移动的可移动板802保持，IC(集成电路)安装到目标电路板801上作为测量的目标。此外，同轴连接器(下文中称为“同轴插头”)961分别与端子851的一端连接。同轴插头961中的每个经由同轴电缆962与测量电路板(未示出)连接，信号发生器电路、比较器等安装到所述测量电路板上。在测量时，可移动板802朝向目标电路板801移动以使端子851的另一端与目标电路板801形成接触。结果，同轴插头961通过端子851与目标电路板801电连接，从而将目标电路板801和测量电路板彼此电连接。

通过使用同轴端子851，信号的高频分量在端子中几乎不衰减或被反射。因此，由测量电路板中的信号发生器电路输出的输入信号在保持其波形满意的同时经由端子851发送或传送给目标电路板801。此外，由作为目标电路板801中的测量的目标(测量目标)的IC输出的输出信号在保持其波形满意的同时经由端子851发送给测量电路板。

然而，日本待审公开的实用新型申请No.60-123666的同轴活动触头端子851压配合到形成在可移动板802中的腔814中；并且使可移动板802朝向目标电路板801移动，从而使同轴活动触头端子851向上向下移动以使端子851与目标电路板801形成接触。如上所述，同轴活动触头端子851仅从下方与目标电路板801挤压接触。因此，例如，在氧化膜等形成在目标电路板801的连接盘的表面上的情况下，担心的是连接电阻由于氧化膜而增加，这依次导致可能经由同轴活动触头端子851不能按期望的波形接收到高频信号。

日本待审公开的专利申请No.7-272810公开了用于IC插槽的活动触销装置。IC封装件安装到活动触销装置上。在安装时，使得活动触销装置的构成活动触销装置的接触元件与IC封装件的连接端子挤压接触，并且然后通过构成活动触销装置的另一扭曲元件来旋转接触元件。以此方式，在接触元件与连接端子相接触的状态下接触元件旋转从而进行擦拭。通过这样做，可以从连接端子和接触元件的表面上擦除或去除氧化膜等，使得可以抑制连接电阻的增加。

然而，在日本待审公开的专利申请No.7-272810的接触旋转机构中，利用构成活动触销装置的另一扭曲构成元件来旋转接触元件。因此，需要将另一扭曲构成元件布置在接触元件的旋转轴线的位置处。因此，在日本待审公开的实用新型申请No.60-123666中公开的同轴活动触头端子851中试图使外导体861旋转的情况下，需要将另一扭曲构成元件布置在外导体861的旋转轴线的位置处。然而，在同轴活动触头端子851中，中央导体852需要布置在外导体861的中央处。因此，在日本待审公开的实用新型申请No.60-123666中公开的同轴活动触头端子851中，即使试图将日本待审公开的专利申请No.7-272810中公开的另一扭曲构成元件布置在外导体861的旋转轴线的位置处，由于中央导体852已经布置在该位置处，不可能将日本待审公开的专利申请No.7-272810中公开的另一扭曲构成元件布置在旋转轴线的位置处。结果，在同轴活动触头端子851中，不可能利用另一扭曲构成元件来旋转外导体861从而进行擦拭，并且因此不可能抑制同轴活动触头端子851中的连接电阻的增加。

发明概述

本发明的目的是提供能够在诸如探针的具有同轴结构的触头中进行擦拭的同轴连接器。