[发明专利]混合信号集成电路装置中的模拟电路的自我自动校准有效
| 申请号: | 200980140753.X | 申请日: | 2009-10-26 |
| 公开(公告)号: | CN102187571A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
| 发明(设计)人: | 詹姆斯·B·诺兰;库门·布莱克 | 申请(专利权)人: | 密克罗奇普技术公司 |
| 主分类号: | H03F3/45 | 分类号: | H03F3/45 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 孟锐 |
| 地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 混合 信号 集成电路 装置 中的 模拟 电路 自我 自动 校准 | ||
1.一种集成电路,其具有至少一个模拟输入装置及用以最小化至少一个模拟输入装置中的输入偏移电压的自动校准电路,所述集成电路包含:
至少一个模拟输入装置,其具有数控输入偏移电压补偿电路;及
自动校准电路,所述自动校准电路耦合到所述至少一个模拟输入装置且耦合到所述输入偏移电压补偿电路,其中在由事件起始的自动校准循环期间在所述至少一个模拟输入装置中最小化输入偏移电压。
2.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述事件为用户自动校准请求。
3.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述事件为通电复位。
4.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述事件为检测到所存储自动校准数据值中的奇偶误差。
5.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述事件为自动校准计时器的结束时间。
6.根据权利要求5所述的集成电路,其中所述自动校准计时器时间是可编程的。
7.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述事件为所述集成电路的温度的改变。
8.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述事件为电源电压的改变。
9.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述至少一个模拟输入装置为比较器。
10.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述至少一个模拟输入装置为具有差分输入及输出的运算放大器。
11.根据权利要求10所述的集成电路,其中所述自动校准电路包含:
电压比较器;
电压参考,其耦合到所述电压比较器的输入;
电压偏移修整数/模转换器(DAC);
电压偏移校准开关;
逐次逼近寄存器(SAR),其具有耦合到所述电压比较器的输出的输入及耦合到所述电压偏移修整DAC的输出;及
校准逻辑,其中当所述事件发生时,所述校准逻辑控制所述电压偏移校准开关以
将所述运算放大器的所述差分输入耦合到所述电压参考,及
将所述运算放大器的所述输出耦合到所述电压比较器的另一输入;
借此,所述电压比较器致使所述SAR改变去往所述电压偏移修整DAC的输出值以便最小化所述至少一个模拟输入装置的所述输入偏移电压。
12.根据权利要求11所述的集成电路,其进一步包含连接在所述SAR与所述电压偏移修整DAC之间的偏移补偿锁存寄存器,其中所述偏移补偿锁存寄存器存储用以最小化所述至少一个模拟输入装置的所述输入偏移电压的所述SAR输出值。
13.根据权利要求11所述的集成电路,其中所述电压参考是可编程的。
14.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述至少一个模拟输入装置为具有差分输入、第一输出及校准输出的运算放大器。
15.根据权利要求14所述的集成电路,其中所述自动校准电路包含:
电压比较器;
电压参考,其耦合到所述电压比较器的输入;
电压偏移修整数/模转换器(DAC);
电压偏移校准开关;
逐次逼近寄存器(SAR),其具有耦合到所述电压比较器的输出的输入及耦合到所述电压偏移修整DAC的输出;及
校准逻辑,其中当所述事件发生时,所述校准逻辑控制所述电压偏移校准开关以将所述运算放大器的所述差分输入耦合到所述电压参考,及
将所述运算放大器的所述校准输出耦合到所述电压比较器的另一输入;
借此,所述电压比较器致使所述SAR改变去往所述电压偏移修整DAC的输出值以便最小化所述至少一个模拟输入装置的所述输入偏移电压。
16.根据权利要求15所述的集成电路,其中所述运算放大器的所述第一输出为三态输出且当所述至少一个模拟输入装置的所述输入偏移电压正被最小化时与所述校准输出解耦。
17.根据权利要求15所述的集成电路,其进一步包含连接在所述SAR与所述电压偏移修整DAC之间的偏移补偿锁存寄存器,其中所述偏移补偿锁存寄存器存储用以最小化所述至少一个模拟输入装置的所述输入偏移电压的所述SAR输出值。
18.根据权利要求15所述的集成电路,其中所述电压参考是可编程的。
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