[发明专利]对天线元件进行馈电的装置及方法

权利要求书

1.一种用于对相控阵列天线的天线元件进行馈电的装置(100)，包括：

-至少两条传输线(101，101′)，并行设置且工作于一定频率作为谐振器，每一条传输线(101，101′)具有预定长度，该预定长度的大小至少为工作频率的约四分之一电波长，

-沿传输线纵向方向(x)间隔设置在传输线(101，101′)上的多个测量位置，

-多个放大/衰减电路(110，120，130)，用于检测来自传输线(101，101′)上测量位置的测量信号，处理这些测量信号，并生成输出信号用于对相应的天线元件进行馈电，其中所述测量信号由相应位置处传输线中的谐振场确定。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，测量位置沿着传输线(101，101′)按等距间隔设置。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其中，两条传输线中一条传输线(101)上的每一测量位置正对另一传输线(101′)上相应的测量位置，这种在与传输线(101，101′)的纵向方向横切的方向上彼此相邻的相对应测量位置分别形成测量位置对，其中每一放大/衰减电路(110，120，130)检测和处理来自针对相应纵向位置的、与传输线(101，101′)相关联的分配测量位置对的测量信号。

4.根据权利要求1至3所述的装置，其中，每一传输线(101，101′)分别耦合至信号源(102，102′)，且信号源工作于相同频率ω且相对于彼此具有相位差γ。

5.根据权利要求4所述的装置，其中，一条传输线(101)一端耦合至相应信号源(102)，而另一传输线(101′)的相反端耦合至另一信号源(102′)。

6.根据权利要求1至5所述的装置，其中，放大/衰减电路(110，120，130；210，220，230，240，250)包括放大器/衰减器，其增益/损耗可调。

7.根据权利要求6所述的装置，其中，放大/衰减电路(110，120，130；210，220，230，240，250)各自包括用于对分配测量位置对的测量信号进行检测和放大的第一和第二放大器，其中放大电路(110，120，130；210，220，230，240，250)的第一放大器检测和放大测量位置对中第一传输线(101)的测量位置的测量信号，第二放大器检测和放大第二传输线(101′)的相应测量位置的测量信号。

8.根据权利要求6或7所述的装置，其中，放大电路各自包括求和元件(110c，120c，130c；210c，220c，230c，240c，250c)，所述求和元件将放大电路(110，120，130；210，220，230，240，250)的放大器所检测和放大的所述测量信号相加，并产生分配至测量位置对的输出信号用于对相应天线元件进行馈电。

9.根据权利要求6至8所述的装置，其中，放大/衰减电路(110，120，130；210，220，230，240，250)的放大器的增益/衰减通过数模转换器(140)可控。

10.根据权利要求9所述的装置，其中，放大电路(110，120，130；210，220，230，240，250)被配置为级联放大器。

11.根据权利要求1至10所述的装置，其中，放大电路(110，120，130；210，220，230，240，250)被实现为场效应晶体管电路，且放大器被实现为共源级，放大器的输入耦合至相应的测量位置对，输出耦合至求和元件(110c，120c，130c；210c，220c，230c，240c，250c)的输入，所述求和元件被配置为共栅级。

12.根据权利要求1至11所述的装置，其中，设置至少一对传输线，来自该传输线对的各测量位置的信号被相应的放大电路检测和放大，并被求和以生成用于天线元件的操纵信号。

13.根据权利要求12所述的装置，其中，第二对至少两条传输线被馈送相位角度约为0°和δ°的信号，其中δ＞0，且第一和第二传输线对的输出信号被求和以生成用于二维平面阵列天线的天线元件的操纵信号。

14.一种系统，包括根据权利要求1至13所述的装置以及相控阵列天线。