[发明专利]用于检测对象的检测装置

权利要求书

1.一种用于检测对象的检测装置，所述检测装置(1)包括用于检测所述对象(2)的性质的检测元件(17)的排列(7)，其中所述检测元件(17)可以接触模式工作，在接触模式下可进行检测，而所述检测元件(17)与所述对象(2)接触，以及可以非接触模式工作，在非接触模式下可进行检测，而所述检测元件(17)不与所述对象接触。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置(1)还包括模式确定单元(55)，用于确定检测元件(17)是否与所述对象(2)接触。

3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，如果检测元件(17)处于非接触模式，所述检测元件(17)适合通过进行单极采集获得电信号，其取决于待确定的性质；如果检测元件(17)处于接触模式，所述检测元件(17)适合通过进行单极或双极采集获得电信号，其取决于电位。

4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测元件(17)适合获得电信号，其取决于待确定的性质，其中所述检测装置包括电信号处理单元(57)，如果检测元件(17)处于非接触模式，所述电信号处理单元(57)用于将电信号变换到所述对象(2)的表面，在此所述对象(2)的性质被确定。

5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，如果检测元件(17)处于非接触模式，电信号处理单元(57)适合于进行非接触模式滤波并将滤波的电信号变换到所述对象(2)的表面，在此所述对象(2)的性质被确定，如果检测元件(17)处于接触模式，电信号处理单元(57)适合于进行接触模式滤波。

6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括用于容纳至少检测元件(17)的排列(7)的管筒(6)，以便在所述对象(2)的内部引导检测元件(17)以检测所述对象(2)的内部。

7.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括用于保持检测元件(17)的排列(7)的保持结构(50)，其中所述检测元件(17)被布置在所述保持结构(50)上，所述保持结构(50)可在折叠状态与至少一个展开状态之间调节，以及所述保持结构(50)包括处于折叠状态的细长形状。

8.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述保持结构(50)适合于以及所述检测元件(17)布置成使得在第一展开状态下检测元件(17)之间的间隔与在第二展开状态下检测元件(17)之间的间隔不同。

9.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测元件(17)适合施加能量和接收能量。

10.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括在成像装置(12)中可显像的标记(20)。

11.如权利要求10所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括配准单元(58)，用于将所述检测元件(17)与所述对象(2)的模型配准。

12.一种用于检测对象(2)的性质的检测方法，所述检测方法包括如下步骤：

-当所述检测元件(17)不与所述对象(2)接触时，通过使用检测元件(17)的排列(7)以非接触模式检测所述对象(2)的性质，

-当所述检测元件(17)与所述对象(2)接触时，通过使用检测元件(17)的排列(7)以接触模式检测所述对象(2)的性质。

13.如权利要求12所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括在以非接触模式检测之后且在以接触模式检测之前的以下步骤：

-根据以非接触模式检测的性质确定所述对象(2)的受关注区域；

-使得检测元件(17)在受关注区域与所述对象(2)接触。

14.一种用于检测对象(2)的计算机程序，当所述计算机程序在控制如利要求1所述的检测装置的计算机上运行时，所述计算机程序包括用于使所述检测装置实施如权利要求12所述检测方法的步骤的程序代码工具。