[发明专利]配合原料的水分测定方法及水分测定装置

权利要求书

1.一种配合原料的水分测定方法，其是采用3波长式红外线水分计的配合原料的含有水分测定方法，其特征在于：作为比被水吸收的波长λ_W长的长波长侧参照波长λ_L和比所述波长λ_W短的短波长侧参照波长λ_S的参照波长组合，采用所述配合原料的含有水分量w和吸光度k的关系式k＝aw+b中的b不依赖于所述配合前原料的配合比率、且在所述红外线水分计的容许测定误差的范围内所述b被看作为零的参照波长组合。

2.根据权利要求1所述的配合原料的水分测定方法，其特征在于，还具备以下工序：

假设多个作为所述长波长侧参照波长λ_L的候补的长波长侧参照波长候补λ_L’的工序；

每当采用多个所述长波长侧参照波长候补λ_L’的每一个时，对处于水分已被除去的状态的所述多种配合前原料的每一种的吸光度k₀进行测定的工序；

每当采用多个所述长波长侧参照波长候补λ_L’的每一个时，对所述多种配合前原料的每一种的所述吸光度k₀的平方和除以所述配合前原料的个数得出的值即k₀平方和平均值进行计算的工序；以及

从所述多个长波长侧参照波长候补λ_L’中，选择所述k₀平方和平均值为0.001以下的长波长侧参照波长候补λ_L’作为所述长波长侧参照波长λ_L的工序。

3.根据权利要求2所述的配合原料的水分测定方法，其特征在于：选择所述k₀平方和平均值为最小值的长波长侧参照波长候补λ_L’作为所述长波长侧参照波长λ_L。

4.根据权利要求2所述的配合原料的水分测定方法，其特征在于，还具备以下工序：

假设多个作为所述长波长侧参照波长λ_L的候补的长波长侧参照波长候补λ_L’的工序；

假设多个作为所述短波长侧参照波长λ_S的候补的短波长侧参照波长候补λ_S’的工序；

假设多个由多个所述长波长侧参照波长候补λ_L’和多个所述短波长侧参照波长候补λ_S’组合而成的参照波长组合候补的工序；

每当采用多个所述参照波长组合候补的每一个时，对处于水分已被除去的状态的所述多种配合前原料的每一种的吸光度k₀进行测定的工序；

每当采用多个所述参照波长组合候补的每一个时，对所述多种配合前原料的每一种的所述吸光度k₀的平方和除以配合前原料的个数得出的值即k₀平方和平均值进行计算的工序；以及

从所述多个参照波长组合候补中，选择所述k₀平方和平均值为0.001以下的参照波长组合候补作为所述参照波长组合的工序。

5.根据权利要求4所述的配合原料的水分测定方法，其特征在于：从所述多个参照波长组合候补中，选择所述k₀平方和平均值为最小值的参照波长组合候补作为所述参照波长组合。

6.根据权利要求1所述的配合原料的水分测定方法，其特征在于：利用多个可通过特定波长的带通滤波器来选择所述参照波长组合。

7.根据权利要求1所述的配合原料的水分测定方法，其特征在于：基于连续波长的红外线分光测定结果选择所述参照波长组合。

8.根据权利要求1所述的配合原料的水分测定方法，其特征在于：

所述配合原料为烧结原料，

所述被水吸收的波长λ_W为1.9μm～2.0μm的波长，

所述长波长侧参照波长λ_L为从2.2μm～2.4μm的波长范围中选择的波长。

9.根据权利要求8所述的配合原料的水分测定方法，其特征在于：所述短波长侧波长λ_S为从1.6μm～1.8μm的波长范围中选择的波长。