[发明专利]偏光薄膜的分类系统以及分类方法

说明书

技术领域

本发明涉及偏光薄膜的分类系统以及分类方法，用于将已在其中一部分上标有表示缺陷部分的记号的多个偏光薄膜分类成标有表示缺陷部分的记号的偏光薄膜和没有标有上述记号的偏光薄膜。

背景技术

偏光薄膜通常被制造成具有一定宽度的长带状，在此状态下对其进行各种处理并卷绕到滚筒上作为卷筒薄膜(全幅的偏光薄膜)。然后，通常是卷筒薄膜从滚筒被拉出，并按照产品规格从被拉出的卷筒薄膜切割出规定形状的多个片状薄膜(切割成多个产品的偏光薄膜)。

并且，在带状的状态下利用缺陷检测装置来对偏光薄膜进行缺陷检测，并在偏光薄膜的已被检测的缺陷部位的附近位置上，用毡笔或喷墨等来做记号，以便在后续工序中容易识别缺陷部分(例如参照专利文献1)。

根据上述技术，当从卷筒薄膜切割出的片状薄膜上存在缺陷部分时，即使是肉眼难以识别的缺陷部分，由于在其附近位置上标有记号，因此用肉眼也能够容易识别缺陷的存在，能够容易将有缺陷的片状薄膜作为不合格品从产品中去除。

然而，在上述已有技术中，在缺陷检查后的工序中，在将卷筒薄膜从滚筒拉出、并将拉出的卷筒薄膜切割成规定形状的多个片状薄膜后，需要通过肉眼来判别含有记号的片状薄膜，并通过人力来去除含有记号的片状薄膜。

[专利文献1]日本发明专利公开公报“2001-305070号公报”(公开日：2001年10月31日)

发明内容

本发明鉴于上述问题而成，其目的在于提供一种偏光薄膜的分类系统以及分类方法，能够不用人力而是自动地将标有记号的片状薄膜与没有标记号的片状薄膜分类。

为了解决上述问题，本发明涉及的偏光薄膜的分类系统是进行对于一部分标有记号的多个偏光薄膜的分类的分类系统，其特征在于，具有：摄像机构，其对上述多个偏光薄膜的图像进行摄像；记号检测机构，其基于由上述摄像机构摄像的图像来检测在上述偏光薄膜上存在的记号，并输出表示记号位置的记号检测信号；判断机构，其基于上述记号检测信号来判断上述各偏光薄膜上是否标有记号；以及分类机构，其基于上述判断机构的判断结果而将上述多个偏光薄膜分类成标有记号的偏光薄膜和没有标记号的偏光薄膜。

根据上述构成，能够不用人力而是自动地将标有记号的片状薄膜与没有标记号的片状薄膜分类。

在本发明涉及的分类系统中，上述多个偏光薄膜是通过在对偏光薄膜进行检查并在缺陷部分的附近位置标上记号后将偏光薄膜切割成多个偏光薄膜而得到的，上述摄像机构是在上述多个偏光薄膜隔开间隔地并排输送的状态下进行摄像的，本发明的分类系统还具有薄膜间隔检测机构，该薄膜间隔检测装置对上述偏光薄膜之间的间隔的位置进行检测，且输出表示间隔的位置的薄膜间隙检测信号，上述判断机构基于上述记号检测信号和上述薄膜间隔检测信号来判断上述各偏光薄膜上是否标有记号。

根据上述构成，能够自动进行连续地分类，从而能够从隔开间隔并排地连续被输送的多个偏光薄膜中去除含有表示缺陷部分的记号的偏光薄膜。

在本发明涉及的分类系统中，优选为，如果上述记号检测信号中对应于记号的脉冲和上述薄膜间隔检测信号中对应于间隔的脉冲在时间轴上相邻接，则上述判断机构判断为隔着该间隔的2个偏光薄膜上标有记号。

根据上述构成，即使记号在切割时被不均匀地切断，也能够判断在两个偏光薄膜上都存在记号。从而，例如即使记号在其端部刚好被切断，也能够将那个含有被切割成较小的部分记号的偏光薄膜判断为含有表示缺陷部分的记号的偏光薄膜，能够防止将含有缺陷部分的偏光薄膜分类到合格品中。

在本发明涉及的分类系统中，如果使上述记号检测信号中的脉冲沿时间轴方向的前后伸长、且上述薄膜间隔检测信号中对应于间隔的脉冲全部与上述伸长后的脉冲重叠，则上述判断机构判断为在隔着该间隔的2个偏光薄膜上标有记号。

根据上述构成，即使由于在偏光薄膜的端部附有异物等而导致在时间轴上在与薄膜间隔检测信号中对应于间隔的脉冲相邻接的位置上存在脉冲宽度较小的脉冲，也能够防止误判断为隔着该间隔的2个偏光薄膜上存在记号。

为了解决上述问题，本发明涉及的偏光薄膜的分类方法是进行对于一部分标有记号的多个偏光薄膜的分类的分类方法，其特征在于，具有：对上述多个偏光薄膜的图像进行摄像的步骤；基于所摄像的图像来检测在上述偏光薄膜上存在的记号，而得到表示记号位置的记号检测信号的步骤；基于上述记号检测信号来判断上述各偏光薄膜上是否标有记号的步骤；以及基于上述判断的结果而将上述多个偏光薄膜分类成标有记号的偏光薄膜和没有标记号的偏光薄膜的步骤。