[发明专利]确定与感兴趣地下体积有关的地质信息的方法

说明书

相关申请

本申请涉及同此提交的题为“Method for indexing a SubsurfaceVolume for the Purpose of Inferring Geologic Information(用于索引地下体积以推测地质信息的方法)”的美国专利申请(代理人案卷号No.T7206)，其内容全部并入本公开。

技术领域

本申请涉及用于确定与感兴趣地下体积有关的地质信息的系统和方法。具体地讲，本发明涉及确定与感兴趣地下体积内存在的地层的形成速度有关的度量，并且在一些情况下，涉及从所得到的度量推导其它地质信息。

背景技术

用于确定与感兴趣地下体积内存在的地层形成的沉积速度有关的信息的技术已为人们所知。然而，这些技术通常需要与感兴趣地下体积有关的地震数据的人工分析(例如，地震数据内的层位的人工挑选)和/或不精确的计算，并通常导致被稀疏采样和/或低分辨率的数据。因而，实现所确定信息在其它地质信息的推导中的有用性被减小。

发明内容

本发明的一个方面涉及一种计算机实现的确定与地下体积内的地层形成有关的信息的方法。在一个实施例中，所述方法包括：获得与地下体积有关的表示地下体积内的地质形成的地震信息，其中，获得的地震信息的参数包括(i)表面平面内的二维位置，和(ii)地震时间；分析所获得的地震信息，以自动识别地下体积内存在的由所获得的地震信息表示的一组层位；从地震信息确定层位体积，其中，所述层位体积把获得的地震信息映射到展平体积内，使得在展平体积内，每个所识别的层位被移动成与由层位体积限定为单个年代地层时间的估计的表面基本上共面，其中，所述展平体积的坐标是(i)所述表面平面中的二维位置，和(ii)与年代地层时间有关的度量；以及在层位体积内，确定对于给定年代地层时间，地震时间相对于年代地层时间的导数，从而提供地层形成度量，所述地层形成度量与在展平体积内对应于给定年代地层时间的表面存在的地层在给定年代地层时间的形成速率有关。

本发明的另一方面涉及一种确定与地下体积有关的地质信息的方法。在一个实施例中，所述方法包括：获得与地下体积有关的地震信息，其中，地震信息表示地下体积内存在的层位；确定自动地把地震信息映射到展平体积内的层位体积，其中，展平体积的一个轴对应于年代地层时间，并且其中，由地震信息表示的层位在层位体积内被自动解释，并被层位体积移动到展平体积内，从而基本上是平面的，并且基本上垂直于展平体积的与年代地层时间相对应的轴；确定层位体积相对于年代地层时间的导数；以及根据层位体积相对于年代地层时间的导数，确定与地下体积有关的地质信息。

本发明的另一方面涉及一种确定与地下体积有关的地质信息的方法。在一个实施例中，所述方法包括：获得地震数据，其中，所述地震数据是根据接收从在地下体积内形成的层位反射的地震脉冲而生成的；从地震数据确定地震信息，其中，所述地震信息描述了包含在地下体积内的层位的三维位置；确定把地震信息映射到展平体积内的层位体积，其中，所述展平体积的一个轴对应于年代地层时间，并且其中，层位体积把地震信息映射到展平体积内，使得在地震信息中描述的基本上所有层位都被单独移动成基本上是平面的，并且基本上垂直于展平体积的与年代地层时间相对应的轴；确定层位体积相对于年代地层时间的导数；以及根据层位体积相对于年代地层时间的导数，来确定与地下体积有关的地质信息。

本发明的另一方面涉及一种计算机实现的确定与地下体积内的地层形成有关的信息的方法。在一个实施例中，所述方法包括：获得与地下体积有关的、表示地下体积内的地质形成的地震信息，其中，所获得的地震信息的坐标是(i)表面平面内的二维位置，和(ii)地震深度；分析所述地震信息，以自动识别存在于地下体积内的由地震信息表示的一组层位；从所述地震信息确定层位体积，其中，所述层位体积把获得的地震信息映射到展平体积内，使得在展平体积内，每个所识别的层位被移动成与由层位体积限定为单个年代地层时间的估计的表面基本上共面，其中，所述展平体积的坐标是(i)表面平面内的二维位置，和(ii)与年代地层时间有关的度量；以及在层位体积内，对于给定年代地层时间，确定地震深度相对于年代地层时间的导数，从而提供地层形成度量，所述地层形成度量与在展平体积内对应于给定年代地层时间的表面存在的地层在给定年代地层时间的形成速率有关。