[发明专利]辐射检测组件、辐射检测器以及用于辐射检测的方法无效
申请号: | 200980102184.X | 申请日: | 2009-01-07 |
公开(公告)号: | CN101919023A | 公开(公告)日: | 2010-12-15 |
发明(设计)人: | 欧文·温伯格 | 申请(专利权)人: | 欧文·温伯格 |
主分类号: | H01J47/00 | 分类号: | H01J47/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 杨生平;钟锦舜 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 检测 组件 检测器 以及 用于 方法 | ||
1.一种用于检测辐射的组件,包括:
主基质,该主基质限定第一表面和第二表面以及该第一表面和该第二表面之间的厚度;
悬置在所述主基质内的多个粒子,所述多个粒子能够在与所述辐射相互作用时产生至少一个电荷载体;
第一电极,该第一电极被布置成与所述主基质的第一表面相邻;
第二电极,该第二电极被布置成与所述主基质的第二表面相邻;以及
电源,该电源可操作地连接至所述第一电极和第二电极中的至少一个,
其中,所述电源用于在所述第一电极和第二电极之间建立电场,
其中,关于所述至少一个电荷载体的迁移率寿命场强度积由方程式MLFP=E·t·M来限定,
其中,MLFP为所述迁移率寿命场强度积的值,
其中,E为所述第一电极和第二电极之间的所述电场的值
其中,t为所述至少一个电荷载体的寿命的值,
其中,M为所述至少一个电荷载体的迁移率的值,且
其中,所述迁移率寿命场强度积与所述主基质的第一表面和第二表面之间的厚度的比值大于或者等于0.1。
2.根据权利要求1所述的组件,其中,所述主基质包括至少一种材料,该材料选自包括塑料、聚合物、半导体聚合物、具有交替的单和双碳-碳键的构架的半导体有机聚合物、聚苯胺(PA)、聚乙烯咔唑、聚乙炔、聚[2-甲氧基-5-(2′乙基-己氧基)-对亚苯基亚乙烯基]、聚[乙烯基咔唑]、聚[3-己基噻吩]、苯基-C61-丁酸甲酯、PAn、PVCZ和聚噻吩的组。
3.根据权利要求1所述的组件,其中,所述主基质包括多个主基质层,所述多个主基质层布置成彼此相邻以限定所述第一表面和第二表面之间的厚度。
4.根据权利要求1所述的组件,其中,所述主基质包括柔性材料。
5.根据权利要求3所述的组件,其中,所述多个主基质层各自包括柔性材料。
6.根据权利要求3所述的组件,其中,所述多个主基质层中的至少一个在成分上不同于所述多个主基质层的其它层。
7.根据权利要求1所述的组件,其中,所述多个粒子为包括至少十个原子的纳米粒子。
8.根据权利要求7所述的组件,其中,所述纳米粒子呈现与大量原子的特征不同的特征。
9.根据权利要求1所述的组件,其中,所述多个粒子包括至少一种材料,该材料选自包括无定形半导体、晶体半导体、绝缘体、硼、硅、硫化铅、碲化铅、硒化铅、碘化汞、溴化铊、碲化锌镉以及碲化镉的组。
10.根据权利要求1所述的组件,其中,所述多个粒子包括至少一种具有的原子数大于45的元素。
11.根据权利要求1所述的组件,其中,所述粒子具有至少一种选自包括球形、无定形、棒状、管状、立方形、矩形以及金字塔形的组的形状。
12.根据权利要求1所述的组件,其中,所述多个粒子占据所述主基质的至少50体积%。
13.根据权利要求1所述的组件,其中,所述第一电极和第二电极中的至少一个包括至少一种选自包括铝、铟锡氧化物、导电材料、半导体材料、金、银、钙、铜和氧化锡的组的材料。
14.根据权利要求1所述的组件,其中,所述第一电极和第二电极中的至少一个包括至少一个子部分。
15.根据权利要求14所述的组件,其中,所述至少一个子部分包括多个带状部,所述多个带状部被布置成彼此邻近。
16.根据权利要求14所述的组件,其中,所述至少一个子部分包括多个块,所述多个块被布置成彼此邻近。
17.根据权利要求1所述的组件,还包括:
封闭所述多个粒子中的至少一个的至少一个外涂层。
18.根据权利要求17所述的组件,其中,所述至少一个外涂层包括多个涂覆层。
19.根据权利要求17所述的组件,其中,所述至少一个外涂层部分地封闭所述多个粒子中的至少一个。
20.根据权利要求17所述的组件,其中,所述至少一个外涂层完全地封闭所述多个粒子中的至少一个。
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