[实用新型]教学用数控机床多用途光栅信号处理装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种教学设备，尤其是一种教学用数控机床，具体地说是一种利用光栅尺代替昂贵的激光干涉仪进行直线位置精度检测实现闭环控制的教学用数控机床多用途光栅信号处理装置。

背景技术

众所周知，一般测量直线运动的检测工具有：标准长度刻线尺、成组块规、测微仪、光学读数显微镜及双频激光干涉仪等。标准长度测量又以双频激光干涉仪的测量结果为准。回转运动检测工具有360齿精密分度的标准转台或角度多面体、高精度圆光栅和平行光管等。目前通用的检测仪为双频激光干涉仪。

现在数控机床的应用已非常广泛，但在数控机床维修维护教学过程工作中，遇到需要精确测量伺服运动(数控机床的坐标定位精度、重复定位精度、反向差值、原点返回误差等)，一般是利用激光干涉仪或读数显微镜/金属线纹尺等专用高精度设备进行，此类设备价格非常昂贵并安装调试复杂，不易在教学场所广泛使用。如果在教学用数控机床上使用将成倍地提高学校的采购成本，因此现有的教学用数控机床均没有相应的检测功能，影响了教学质量的提高。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有的教学用数控机床因直线检测设备成本高而未全面配置，影响教学质量的问题，设计一种利用光栅尺代替昂贵的激光干涉仪进行直线位置检测，从而完善实验功能的教学用数控机床多用途光栅信号处理装置。

本实用新型的技术方案是：

一种教学用数控机床多用途光栅信号处理装置，包括光栅尺1，其特征是所述光栅尺1的读数头的输出与光栅信号接收模块2的输入端相连，光栅信号接收模块2的输出一路送入信号发送模块3，再由信号发送模块送入数控系统4中用于教学用数控机床的全闭环实验或实训，光栅信号接收模块2另一路输出同时送入信号处理模块5进行处理并通过通讯模块6送入计算机7中，由计算机7计算得出教学用数控机床实际位移的定位精度、重复定位精度、反向差值和原点返回误差值送入数控系统4中进行闭环控制并同时在显示模块8上进行显示。

所述的信号处理模块5和通讯模块6进行双向通讯。

所述的信号处理模块5还连接有键盘模块9。

本实用新型的有益效果：

本实用新型利用价格低廉的光栅尺代替激光干涉仪实现了数控机床直线位移精度的检测，且与激光干涉仪具有相同的检测效果，在不增加成本的前提下完善了实验功能，进一步拓展了光栅尺的应用领域。

本实用新型的结构简单，易于实现，所需的电路均可利用现有技术加以实现，采用成熟的集成块配以简单的计算和控制软件即可实现原需几十万元的激光干涉仪所能实现的直线位置精度的检测。

本实用新型实现了光栅尺的多种用途。一种是光栅尺信号反馈给数控系统构成伺服的全闭环控制，可以完成数控机床的半闭环和全闭环实验实训教学工作。一种是光栅尺信号反馈给信号处理装置，由此完成精确测量机械运动，可完成数控机床的各项位置精度补偿(如反向间隙补偿、螺距误差补偿等，原此项工作的检测器件价格高并且安装繁)实验实训教学工作。

附图说明

图1是本实用新型的结构框图示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的说明。

如图1所示。

一种教学用数控机床多用途光栅信号处理装置，包括光栅尺1，所述光栅尺1的读数头的输出与光栅信号接收模块2的输入端相连，光栅信号接收模块2的输出一路送入信号发送模块3，再由信号发送模块送入数控系统4中用于教学用数控机床的全闭环实验或实训，光栅信号接收模块2另一路输出同时送入信号处理模块5进行处理并通过双向通讯模块6送入计算机7中，由计算机7计算得出教学用数控机床实际位移的定位精度、重复定位精度、反向差值和原点返回误差值送入数控系统4中进行闭环控制并同时在显示模块8上进行显示。信号处理模块5的显示和相关参数可通过与之相连的键盘模块9实现输入。

本实施例的各功能模块可采用现有的集成电路配以简单的软件加以实现，对于本领域技术人员而言，按照本实用新型的框图无需创造性劳动即可加以实现。

本实用新型的工作原理是：