[实用新型]一种斜置荧光激发与检测光路装置无效
申请号: | 200920181498.0 | 申请日: | 2009-11-30 |
公开(公告)号: | CN201555787U | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 王敏;梁秀玲;张万祯;卓金寨 | 申请(专利权)人: | 福建师范大学 |
主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00;G01N15/10 |
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地址: | 350007 福建省福州*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 荧光 激发 检测 装置 | ||
技术领域:
本实用新型涉及荧光激发与检测装置,尤其适用于流式细胞检测技术中的荧光激发与检测光路装置。
背景技术:
目前,可检测流式细胞大小、品种以及在流体中数量的流式细胞检测技术的荧光激发与检测装置都采用激发光照在透明样品流动室里的样品上进行荧光激发,样品室常常采用横截面为矩形体的透明导管;若以导管内液体流向为Z轴正向,样品室矩形横截面的长边方向的对称轴为Y轴,以Z轴、Y轴构成平面的垂直线为X轴,检测接收器光路与X轴重合。则检测光路进行荧光信号的探测,激发光路与检测光路通常采用共轴和正交两种空间分布形式。共轴状态下,激发光光束的宽度与样品室横截面Y轴方向宽度相当;正交状态下,激发光光束与样品室横截面X轴方向宽度相当;以保证照在流过样品流动室里的每个颗粒上;共轴光路系统的缺点是激发光照在样品和样品室上的反射或透射的强光信号容易直接进入或者反射进入检测光路,即使采用截止滤光片往往无法完全截止这种强光,这会对荧光信号造成较强的干扰,大大降低检测信号的信噪比,不利于荧光信号的检测。激发光路与检测光路正交分布的光路系统虽然克服了共轴光路结构的这个缺点,但是,为了获取最强的莹光信号样品室往往采用横截面边长较宽的一面朝向检测光路,正交分布的激发光路与样品室横截面边长较窄的一面垂直,由于样品室的制造工艺问题,玻璃样品室横截面窄边方向的弯曲较严重,因此激发光路与检测光路正交分布的光路系统中激发光从窄侧入射造成光束变形和较严重散射,这不利于对实验的控制,而且较严重的散射激发光容易进入检测光路,降低检测信号的信噪比,不利于荧光信号的检测。同时待检样品处于充满样品室的液体中,激发光光线在液体中Y轴方向传输的距离较长,通常样品所处的液体并不纯净,会悬浮着一些杂质,穿过较长的样品流动室里传输距离散射效应将使激发光强度衰减,激发光强度不同即使被照到的样品颗粒完全相同激发出的荧光强度也不同,而荧光的强度是荧光检测分析判断标准的一项重要参数,这不利于荧光信号的检测分析。通常这种激发光路与检测光路正交空间分布形式适合于样品流动室横截面是正方形的系统中。
发明内容:
本实用新型的目的是克服上述缺陷,提供一种斜置荧光激发与检测光路装置。
本实用新型的方案是:包括样品室、激发光发生器、荧光检测装置,检测光路朝向样品室横截面较宽的一面,并且与样品室较宽的一面正交,激发光光束宽度不小于显微镜视场的物方视场宽度,其特征在于:激发光发生器斜置于样品室的一侧,激发光发生器的激发光路与荧光检测装置的检测光路呈锐角相交于样品室横截面的中心,并满足以下条件:激发光路与检测光路交角为20°~70°间的任意角度,这一倾斜角度应该保证激发光不直接进入荧光检测光路,并且保证激发光的反射光不进入荧光检测装置。
本实用新型的优点是:1、同激发光路与检测光路采用共轴光路相比,本发明有效避免激发光透射进入或反射进入荧光信号检测装置造成强的干扰光,大幅提高荧光检测的信噪比;激发光穿过样品室透射或反射后,方便得到有效处理,不影响荧光信号检测。2、同激发光路与检测光路采用正交光路相比,检测光路方向的样品室壁面宽度比侧面的大,激发光束的位置调校更为简单;由于样品室较宽面的平面性好,激发光的变形和散射轻微,样品室横截面的激发光光强分布更加均匀,有利于获得良好的荧光信号检测效果;激发光的散射轻微不易进入检测装置,造成强的干扰光,大幅提高荧光检测的信噪比。激发光穿过样品室透射或反射后,方便得到有效处理,不影响荧光信号检测。
附图说明:
附图为本实用新型结构横截面示意图
具体实施方式:
本实用新型结构包括样品室(3)、激发光发生器(1)、荧光检测装置(12),检测光路朝向样品室(3)横截面较宽的一面,并且与样品室(3)较宽的一面正交,激发光光束宽度不小于覆盖显微镜物方视场的宽度,其特征在于:激发光发生器(1)斜置于样品室(3)的一侧,激发光发生器(1)的激发光路与荧光检测装置(12)的检测光路呈锐角相交于样品室(3)横截面的中心,并满足以下条件:激发光路与检测光路交角为20°~70°间的任意角度,这一倾斜角度应该保证激发光不直接进入荧光检测光路,并且保证激发光的反射光不进入荧光检测装置(12)。
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