[发明专利]同轴测温成像的激光聚焦系统无效

专利信息
申请号: 200910273393.2 申请日: 2009-12-25
公开(公告)号: CN101774089A 公开(公告)日: 2010-07-14
发明(设计)人: 王锋;吕超;夏文建 申请(专利权)人: 武汉凌云光电科技有限责任公司
主分类号: B23K26/42 分类号: B23K26/42;G02B27/00
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 樊戎
地址: 430205湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 同轴 测温 成像 激光 聚焦 系统
【权利要求书】:

1.一种同轴测温成像的激光聚焦系统,由CCD成像光路系统、温度探测光路系统和激光聚焦系统构成,其特征在于:准直系统(18)可以由一个或多个镜片组组成;准直系统(18)和聚焦镜(10)沿激光光路光轴(16)构成激光聚焦系统;调节镜(12)、反射镜(13)、合束镜(8)和聚焦镜(10)沿CCD成像光路光轴(17)构成CCD成像系统,可以将加工点(14)的图像成像于CCD(11)接收平面,合束镜(8)将激光与可见光合为一束同轴传播;聚焦镜(2)、反射镜(3)、合束镜(9)和聚焦镜(10)沿探温光路光轴(15)构成温度探测系统,可以将温度的光信号采集到温度探测器(1)上,合束镜(9)将激光、可见光和温度光信号合为一束同轴传播。

2.根据权利要求1所述的同轴测温成像的激光聚焦系统,其特征是,合束镜(8)位于激光光路光轴(16)和CCD成像光路光轴(17)上,将激光和可见光合为一束同轴传输。

3.根据权利要求1所述的同轴测温成像的激光聚焦系统,其特征是,合束镜(9)位于激光光路光轴(16)、CCD成像光路光轴(17)和温度探测光路光轴(15)上,将激光、可见光和温度光信号合为一束实现同轴传输。

4.根据权利要求1所述的同轴测温成像的激光聚焦系统,其特征是,所有光学透镜(2)、(10)、(12)、(18)都可以是单透镜,也可以是组合透镜或多个透镜系统组成的等效透镜。

5.根据权利要求1所述的同轴测温成像的激光聚焦系统,其特征是,聚焦透镜(10)、合束镜(9)的材料必须是同时可以透过可见光、近红外和中红外的材料。

6.根据权利要求1所述的同轴测温成像的激光聚焦系统,其特征是,温度信号、激光、CCD成像信号最终在聚焦镜(10)前合束成为共轴系统。

7.根据权利要求1所述的同轴测温成像的激光聚焦系统,其特征是,温度光信号为中红外波段。

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