[发明专利]一种分离检测阿特拉津和百草枯的方法

权利要求书

1.一种分离检测阿特拉津的方法，其特征在于，将烷基硫醇修饰的 金纳米通道膜置于U形池的进样池和渗透池之间；

将含有待测样品的0.01～0.1M强电解质溶液置于进样池中，渗 透池中加入等量纯水；12～36小时后紫外检测渗透池中阿特拉津的浓 度；

所述烷基硫醇修饰的金纳米通道膜制备方法包括如下步骤：

(a)以多孔聚碳酸酯膜为基膜，采用化学沉积法在孔径为80nm～ 150nm的多孔聚碳酸酯膜上沉积金：将多孔聚碳酸酯膜洗涤后在0.01 M～0.05M SnCl₂溶液浸泡30～120min，使Sn²⁺均匀地吸附在基膜及 膜孔表面；

取出清洗后在N₂气保护下将膜在0.01M～0.04M Ag(NH₃)₂⁺溶液中浸没5～30min，洗涤后浸入pH＝9.5～10.5的6×10^-3M～9 ×10^-3M亚硫酸金钠沉积溶液中，在0～10℃下化学镀金4～10h；洗 涤并用HNO₃除去未反应的Ag，即得到金纳米通道阵列膜；

(b)烷基硫醇的修饰：将所制得的金纳米通道阵列膜活化清洗 后在含0.1％～1％烷基硫醇的一元醇溶液中浸泡10～16h，通过金- 硫键使烷基硫醇自组装在金纳米通道阵列膜上，得到烷基硫醇修饰的 金纳米通道膜；所述的烷基硫醇为C12～C18烷基硫醇。

2.权利要求1所述一种分离检测阿特拉津的方法，其特征在于，所 述的强电解质为钠盐或钾盐。

3.权利要求1所述一种分离检测阿特拉津的方法，其特征在于，步 骤(a)所得到的金纳米通道阵列膜孔径为40～60nm。

4.权利要求1所述一种分离检测阿特拉津的方法，其特征在于，步 骤(b)中，利用体积浓度为60％～80％的硫酸双氧水混合液浸泡2～ 20min对金纳米通道阵列膜进行活化清洗。

5.权利要求1所述一种分离检测阿特拉津的方法，其特征在于，所 述的一元醇为C1～C4的一元醇。