[发明专利]抑制亮点的液晶显示装置和方法

说明书

以参考的形式并入

本申请基于并要求于2008年11月21日提交的编号为JP 2008-298493的日本专利申请的优先权，其公开一并在此作为参考。

技术领域

本发明涉及抑制亮点的液晶显示装置和方法，并且具体地，涉及 使因微小的外来材料而产生的亮点不显著的液晶显示装置和使该亮点 不显著的方法。

背景技术

近年来，越来越需要提高将TFT(薄膜晶体管)用作切换元件的 液晶显示装置的质量。在对于提高质量的日益增长的需求当中，最显 著的质量退化之一是亮点。亮点是在显示半色调或黑色图像的状态下 可见的光泄漏点。宽度大约为几十μm的亮点主要是由于微小外来材 料而产生的，所述微小外来材料是在液晶显示装置的装配过程中混入 的，宽度大约为几μm到几十μm等。

在处于正常黑色模式的液晶显示装置中，由于在该装置的装配过 程中混入的外来材料的折射而产生的光泄漏或由于外来材料对该装置 的液晶的定向造成的干扰而产生的光泄漏始终作为亮点可见。

在将液晶显示装置应用于家用电视机、PC监控设备等的情况下， 非常小的亮点(所述亮点的大小为组成图像的单位像素或点的大小的 百分之几)不被视为缺陷指示。

然而，在将液晶显示装置应用于高质量的显示的情况下(例如， 医疗监控设备)，即使亮点的大小很细微，该亮点也被视为缺陷指示。 原因在于，在将液晶显示装置应用于医疗监控设备时，用户与该装置 之间的距离很短并且从灰度显示中读取细微且精细的图像。

此外，在单色液晶显示装置中透射光的亮度很高，而在彩色液晶 显示装置中透射光的亮度被滤色器所衰减并且没有那么高。因此，当 将单色液晶显示装置应用于高质量显示时，亮点显著并且被视为缺陷 指示。

在此，在TFT液晶显示装置中，存在以下缺陷指示：不是点的一 部分而是点的整个区域是缺陷的。对于点的整个区域中的缺陷指示的 主要原因是在TFT基板的生产过程中产生的缺陷图案。

已经近乎完美地建立了一种恢复TFT缺陷图案的方法。总的来 说，通过施加激光束来破坏缺陷图案，并从而使TFT的操作标准化。 或者，将像素电极和恒定电压信号电极短路并通过施加激光束使像素 电极和恒定电压信号电极彼此连接，像素电极的电压被固定为恒定电 压并因而使TFT的操作标准化。

反之，目前没有去除外来材料的方法，也没有恢复由于微小外来 材料等而造成的亮点的有效方法。

例如，当将激光束施加到外来材料时，几乎不可能完美地破坏该 外来材料。即使外来材料被破坏，其碎片可能分散到正常的区域中， 从而具有亮点的区域可能反而变广。

在此，专利文献1(日本专利公开No.3565327)公开了一种与用 于抑制缺陷点有关的技术。专利文献1公开了一种使得始终处于黑色 状态并且其整个区域不能被电子地控制的缺陷点不显著的技术。即， 对施加到与缺陷点相邻的n(不小于1的整数)个点的信号加以控制， 并将这n个点的总亮度控制为近似等于缺陷点的原始亮度。

图9是示出了专利文献1所公开的液晶显示装置的缺陷点周围的 状态的顶视图。在图9中，点12是缺陷点。缺陷点12始终处于黑色 状态，并且即使当应该实际整体变亮时也不能变亮。相应地，控制与 缺陷点12相邻的点13和点14的亮度，以使得产生假设点12能够变 亮的亮度状态，并因而在视觉上减弱了该缺陷的影响。

发明内容

本发明的主要目标是提供一种抑制亮点的液晶显示装置和方法， 其中，在不增加成本的情况下，使由于装配过程等中混入的微小材料 等而产生的亮点变得不显著到不导致实际问题的程度。

根据本发明的示例性目的的液晶显示装置包括：包括其显示状态 能够被控制的控制区域在内的多个点，以及包括其显示状态被控制为 始终黑色状态的所述控制区域和始终亮的亮点区域在内的、具有亮点 的至少一个点。

在根据本发明的示例性目的的抑制液晶显示装置中亮点的方法 中，该液晶显示装置包括：包括其显示状态能够被控制的控制区域在 内的多个点，以及包括所述控制区域和始终亮的亮点区域在内的、具 有亮点的至少一个点。此处，该方法包括：通过执行图像显示检查以 确认具有亮点的点是否可见来确定具有亮点的点，以及将所确定的具 有亮点的点的控制区域控制为处于始终黑色状态。

附图说明