[发明专利]产生维特比解码器的参考电平的设备和方法

说明书

本申请要求在2008年9月11日提交到韩国知识产权局的第10-2008-0090006号韩国专利申请的利益，该申请全部公开于此以资参考。

技术领域

本发明的各方面涉及一种维特比解码器，更具体地讲，涉及一种针对输入信号产生维特比解码器的最佳参考电平的设备和方法。

背景技术

维特比解码器用于根据输入信号检测二进制信号。例如，维特比解码器用在光盘驱动器中将从盘读取的射频(RF)信号转换为数字信号。维特比解码器使用输入信号和维特比解码器的参考电平之间的差检测二进制信号。因此，为了保证具有高的效率，维特比解码器针对产生输入信号的条件使用最佳参考电平。如果没有针对产生输入信号的条件使用最佳参考电平，则将会在从维特比解码器输出的二进制信号中包含错误。

发明内容

本发明的各方面提供一种适合于针对输入信号产生维特比解码器的最佳参考电平的设备和方法。

根据本发明的一方面，提供了一种产生维特比解码器的参考电平的设备，所述维特比解码器接收输入信号并根据参考电平输出输出信号，所述设备包括：第一参考电平检测单元，使用第一延迟输入信号和维特比解码器的输出信号来检测第一参考电平，其中，所述延迟输入信号相对于输入信号被延迟；第二参考电平检测单元，使用维特比解码器的输出信号和比第一延迟输入信号晚一个时钟周期输入的第二延迟输入信号和比第一延迟输入信号早一个时钟周期输入的第三延迟输入信号，来检测第二参考电平；控制单元，使用在第一参考电平检测单元中计算的第一参考电平的第一平方电平误差和在第二参考电平检测单元中计算的第二参考电平的第二平方电平误差之间的比较结果，来将第一参考电平和第二参考电平中的一个参考电平选择为维特比解码器的参考电平。

根据本发明的一方面，第一参考电平检测单元通过对第一参考电平和维特比解码器的输入信号之间的差取平方来获得第一平方电平误差；第二参考电平检测单元通过对每个第二参考电平和维特比解码器的输入信号之间的差取平方来获得第二平方电平误差，其中，控制单元将第一和第二参考电平中的一个参考电平选择为参考电平，所选择的参考电平在第一和第二平方电平误差中具有最小平方电平误差。

根据本发明的一方面，第二参考电平检测单元包括：第一参考电平检测器，使用比第一延迟输入信号晚一个时钟周期输入的第二延迟输入信号来检测第二参考电平中的一个参考电平；第二参考电平检测器，使用比第一延迟输入信号早一个时钟周期输入的第三延迟输入信号来检测第二参考电平的另一个参考电平，所述控制单元将第一参考电平和第二参考电平中的一个参考电平选择为参考电平，所选择的参考电平在分别在第一电平检测单元和第二电平检测单元中计算的第一和第二平方电平误差中具有最小的平方电平误差。

根据本发明的一方面，第一参考电平检测单元、第一参考电平检测器和第二参考电平检测器中的每一个都分别包括：延迟单元，延迟维特比解码器的输入信号；缓冲器，按预定比特存储维特比解码器的输出信号并输出存储的信号；复用器，根据从缓冲器输出的输出存储信号来发送从延迟单元输出的延迟输入信号；包括多个平均值检测器的平均值检测器组，检测通过复用器有选择地发送的信号的平均值，并输出检测的值，其中，平均值检测器的数目对应于产生的参考电平的数目；存储器，存储从平均值检测器组输出的参考值中的至少一个；和平方电平误差计算器，使用存储在存储器中的参考电平之一和维特比解码器的输入信号来计算平方电平误差，其中，包括在第一参考电平检测器中的延迟单元输出比从包括在第一参考电平检测单元中的延迟单元输出的输入信号晚一个时钟周期输入的信号，包括在第二参考电平检测器中的延迟单元输出比从包括在第一参考电平检测单元中的延迟单元输出的输入信号早一个时钟周期输入的信号，其中，平方电平误差计算器使用存储在存储器中的参考电平中的理想参考电平。