[发明专利]测试转换模块及显示屏测试方法无效
申请号: | 200910160103.3 | 申请日: | 2009-07-17 |
公开(公告)号: | CN101958092A | 公开(公告)日: | 2011-01-26 |
发明(设计)人: | 刘丞佑;卢鑫鑫;李安民 | 申请(专利权)人: | 友达光电(厦门)有限公司;友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G01R31/00;G01R31/28 |
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地址: | 361102 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 转换 模块 显示屏 方法 | ||
技术领域
本发明关于一种测试转换模块及显示屏测试方法,特别是有关于一种可切换检测工作方式的测试转换模块及应用该测试转换模块的显示屏测试方法。
背景技术
平板显示装置目前已广泛应用与各种电子产品中。以液晶显示装置为例,在液晶面板的制造过程中,需要进行多种测试,如液晶单元测试(celltesting)、驱动电路测试、老化测试、功能性测试等,各种测试环节都要用到相应的测试机台。
目前,测试机台的输出参数固定设置,调整参数需要硬件改造或重新烧录测试程序,非常麻烦。并且测试机台也没有与计算机集成制造(ComputerIntegrated Manufacturing,CIM)系统连线,使得测试图样和位置坐标等信息无法直接从CIM系统上传或下载。另外,某些测试环节(如液晶单元测试)使用的测试板仅适于短路条(shorting bar)测试,针对不同型号产品需要重新烧录程式,且不能与液晶模组段的测试使用同一套测试机台,这些更增加了测试工作的复杂度和测试成本。
发明内容
针对上述技术问题,本发明提供的测试转换模块包含程控切换电路、芯片驱动电路、驱动芯片和短路条测试电路。程控切换电路输入模拟信号和电平信号。芯片驱动电路电性连接该程控切换电路,并输入低压差分信号。驱动芯片电性连接该程控切换电路和该芯片驱动电路,并输出全测试信号。短路条测试电路电性连接该程控切换电路,输入该模拟信号,并输出短路条测试信号。其中,该程控切换电路的输出信号控制该驱动芯片和该短路条测试电路的输出。
根据本发明所述的测试转换模块,驱动芯片为覆晶薄膜。
根据本发明所述的测试转换模块,该短路条测试信号包含奇数栅极信号、偶数栅极信号、共通电压信号和RGB信号。
根据本发明所述的测试转换模块,还包含电源供应器,提供各电路所需电源。
本发明提供的显示屏测试方法,包含以下步骤。提供显示屏整合测试机,该测试机包含上述的测试转换模块,通过该测试转换模块,该测试机可在短路条测试模式和全测试模式之间切换。进行液晶单元第一测试,该测试机切换到该短路条测试模式。进行液晶单元第二测试,该测试机切换到该全测试模式。
根据本发明所述的显示屏测试方法,当测试机切换到短路条测试模式时,测试转换模块输出单色图样。进一步地,该单色图样包含红、绿、蓝、黑和白色图样。
根据本发明所述的显示屏测试方法,当测试机切换到全测试模式时,测试转换模块输出全色图样。
根据本发明所述的显示屏测试方法,还包含网络连接于资料库,测试机上传或者下载测试所需的程序或图样。进一步地,该测试机还包含参数设定界面,通过该参数设定界面编辑设定该测试所需的程序或图样。
通过本发明,短路条测试和全测试模式可以切换,因此显示屏的多种测试可以整合使用同一台测试机。网络连线功能方便资料上传和下载,输出参数可以自行编辑设定,增加了缺陷拦检成功率。
附图说明
图1为本发明一实施例的测试转换模块的示意图;
图2为本发明的显示屏测试方法的原理示意图;
图3为本发明一实施例的显示屏测试方法的流程图。
具体实施方式
为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解,兹配合实施例详细说明如下。
请参见图1,图1为本发明一实施例的测试转换模块1的示意图。测试转换模块1包含程控切换电路11、芯片驱动电路12、驱动芯片13和短路条测试电路14。程控切换电路11输入模拟信号AS和电平信号TTL。芯片驱动电路12电性连接程控切换电路11,并输入低压差分信号LVDS。驱动芯片13电性连接程控切换电路11和芯片驱动电路12,并输出全测试信号FC。短路条测试电路14电性连接程控切换电路11,输入模拟信号AS,并输出短路条测试信号SB。其中,程控切换电路11的输出信号控制驱动芯片13和短路条测试电路14的输出。
在一实施例中,驱动芯片13为覆晶薄膜(chip on film,COF)。短路条测试信号SB包含奇数栅极信号GO、偶数栅极信号GE、共通电压信号Vcom和RGB信号。在实际应用中,测试转换模块1还包含电源供应器15,提供各电路所需电源。
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