[发明专利]浮块测试器和用于测试浮块的方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于检查用在信息处理装置或类似装置中的盘驱动器的浮块的浮块测试器。

背景技术

硬盘驱动器(HDD)包括用作记录介质的盘、盘驱动器悬架(此后简称为悬架)、其上安装有悬架的致动臂等。数据磁性地记录在盘上。浮块安装在悬架的远端部分上。浮块设有用于对盘的记录表面访问数据的磁电构件，即用于写入或读取数据的构件。

悬架包括固定到致动臂的基板、附连到基板的承载梁、沿承载梁定位的挠曲件等。浮块安装在形成在挠曲件上的舌部(万向架部分(gimbal portion))上。在盘通过心轴电动机高速转动时，通过在盘和浮块之间流动的空气使浮块稍稍地在盘的表面上方飞行，由此在磁盘和浮块之间形成空气支承。浮块的飞行高度保持在适当的范围内。

在悬架包含在实际的盘驱动器之前，通过浮块测试器检查浮块的可接受性。日本专利申请公开第2004-86976号(专利文件1)中揭示了一种常规浮块测试器的实例。在该浮块测试器中，浮块固定到臂部分以享有与实际悬架相同的条件。磁盘转动，使浮块飞行，并测量浮块的性能。

另一方面，日本专利申请公开第2005-322377号(专利文件2)中揭示的一种浮块测试器(浮块支承装置)包括仿造的负载梁、挠曲件等，它们构造成与实际悬架的负载梁、挠曲件等相同。浮块测试器构造成使浮块能够可拆除地附连到浮块测试器。在该浮块测试器中，盘转动，使浮块安装在悬架上，并在浮块在盘表面上方飞行时进行各种检查。抛弃任何通过这些检查判定为不可接受的浮块。

在专利文件1和2中所述的每个浮块测试器中仅可安装一个浮块。在将浮块移动到盘上方的预定位置之后通过用浮块的磁电构件访问盘的记录表面来测量浮块的性能。测量之后，将浮块移动到其初始位置并将浮块从测试器取出。因此，通常每个浮块在其被测试时单独安装在测试器内。因此，测试多个浮块是没有效率的且需要较长时间。

为了提高浮块检测操作的效率，曾尝试提供具有用于测试器的具有多个悬架的公共桌台，每个悬架都安装有浮块。当桌台相对于盘径向(或沿轨道宽度)移动时，多个浮块同时移动到盘的记录表面上方的区域。但是，盘的周向转速在内周侧和外周侧之间变化相当大。浮块的飞行高度取决于盘的周界转速。因此，移动到例如盘的内周部分的浮块的飞行高度比浮块处于外周部分时要小。

如果使用盘的径向中心部分对浮块进行读取/写入测试，则根据径向中间部分将飞行高度调节到适当的值。如果浮块移动到盘的内周侧，则因此其飞行高度变成小于适当的值。因此，浮块可能与盘的记录表面干涉。

发明内容

本发明提供一种能够安全且有效地测试多个用在盘驱动器中的浮块的浮块测试器。

本发明是一种用于检查盘驱动器的浮块的浮块测试器，其包括：盘，该盘用作记录介质；转动机构，该转动机构使盘转动；悬架，该悬架包括其远端上的提升凸片和其上安装有浮块的万向架部分；可动桌台，该可动桌台可沿盘的轨道宽度方向移动；桌台驱动机构，该桌台驱动机构沿轨道宽度方向移动可动桌台；信号处理部分，该信号处理部分电气连接到浮块的构件并处理信号来访问盘的记录表面；以及引导件，该引导件位于提升凸片和盘的记录表面之间并支承提升凸片，由此防止浮块落到盘上。可动桌台包括悬架支承部分，该悬架支承部分保持沿盘的轨道宽度方向设置的多个悬架。引导件包括引导表面和开口，引导表面沿盘的轨道宽度方向延伸并与提升凸片接触，且开口相对于引导表面的轨道宽度方向形成在中部并使提升凸片能够朝向盘的记录表面移动。

在该浮块测试器中，可动桌台沿盘的轨道宽度移动，使得其上各有浮块的悬架的相应提升凸片一个接一个位于引导件的开口内，且各浮块连续朝向盘的记录表面下降。这样，可连续地检查各浮块并有效地进行测试。根据本发明的浮块测试器，在安装在可动桌台上的浮块中，仅使正在被检查的浮块可与盘的记录表面相对。其它浮块可用由引导件支承的提升凸片保持在与盘的记录表面间隔开足够距离的位置备用。

在本发明的较佳方面，引导件包括第一引导表面和第二引导表面，第一引导表面倾斜成使到盘的记录表面的距离从盘的外周侧朝向开口逐渐减小，且第二引导表面倾斜成使到盘的记录表面的距离从开口朝向盘的内周侧逐渐增加。

此外，悬架可设有夹持机构，该夹持机构可拆除地保持浮块，该夹持机构包括第一支承部分、第二支承部分和弹簧部分，第一支承部分支承浮块的一端部分，第二支承部分支承浮块的另一端部分，且弹簧部分将第二支承部分朝向第一支承部分推压，使浮块插入在第一和第二支承部分之间。