[发明专利]一种超声扫查方法和设备无效
申请号: | 200910081613.1 | 申请日: | 2009-04-07 |
公开(公告)号: | CN101559001A | 公开(公告)日: | 2009-10-21 |
发明(设计)人: | 牟晓勇;苗慧 | 申请(专利权)人: | 北京汇影互联科技有限公司 |
主分类号: | A61B8/00 | 分类号: | A61B8/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100085北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超声 方法 设备 | ||
1、一种超声扫查方法,扫查探头对被测对象进行超声扫查,其特征在于包括:
扫查探头沿第一方向移动进行扫查获得第一组扫查图像数据;
旋转扫查探头,沿第二方向移动进行扫查获得第二组扫查图像数据;
对两组扫查图像数据的影像重叠部分的两组扫查图像数据进行合成,获得第三组扫查图像数据。
2、如权利要求1所述的方法,其特征在于扫查探头沿第一方向移动进行扫查获得第一组扫查图像数据;
以Z轴为转轴,对扫查探头进行旋转90度,沿第二方向移动进行扫查获得第二组扫查图像数据;
对两组扫查图像数据的影像重叠部分,根据扫查图像数据相关性,对两组扫查图像数据进行合成,获得第三组扫查图像数据。
3、如权利要求1所述的方法,其特征在于扫查探头Z轴垂直于被检测体的表面,沿扫查面移动,对被测对象进行扫查。
4、如权利要求1所述的方法,其特征在于两组扫查图像数据所覆盖的为一被测对象的重合的扫查区域。
5、如权利要求1所述的方法,其中扫查探头沿第一方向进行扫查,其特征在于Z轴垂直于被检测体的表面,横向沿X轴,侧向沿Y轴放置,扫查探头沿X轴方向平行移动,对被测对象进行扫查。
6、如权利要求1所述的方法,其中扫查探头沿第二方向进行扫查,其特征在于Z轴垂直于被检测体的表面,横向沿Y轴,侧向沿X轴放置,扫查探头沿Y轴方向平行移动,对被测对象进行扫查。
7、如权利要求1所述的方法,其特征在于扫查探头每间隔一定距离进行一次超声扫描,获得一帧超声扫描图像数据,S={X,Y,(x,y),s},其中包括获取该数据时的扫查探头X轴和Y轴摆放方向,该数据的位置坐标(x,y),以及该位置的一帧扫查图像数据s,该扫查图像数据为一矩阵,矩阵为p*q,p为扫查探头宽度方向的采样点个数,q为扫查的深度方向的采样点个数。
8、如权利要求1所述的方法,其特征在于,对被测对象的一扫查区域,扫查探头沿X轴方向平行移动,获得第一组扫查图像数据,CX={Sx1,Sx2,...Sxn},其中该组数据的y坐标相同,n为扫查探头沿X轴方向平行移动采样的个数;
对被测对象的该扫查区域,扫查探头沿Y轴方向平行移动,获得第二组扫查图像数据,CY={Sy1,Sy2,...Sym},其中该组数据的x坐标相同,m为扫查探头沿Y轴方向平行移动采样的个数。
9、如权利要求1或8所述的方法,其特征在于,对获得的第一组扫查图像数据,CX={Sx1,Sx2,...Sxn},进行三维合成转换,提取相同深度的数据,拼接成为平面,转换成为具有q个平面的扫查图像数据,TX={tx1,tx2,...txq},其中tx1,tx2,...txq为p*n的矩阵;
对获得的第二组扫查数据,CY={Sy1,Sy2,...Sym},进行三维合成转换,提取相同深度的数据,拼接成为平面,转换成为具有q个平面的扫查图像数据,TY={ty1,ty2,...tyq},其中ty1,ty2,...tyq为p*m的矩阵。
10、如权利要求1或9所述的方法,其特征在于设置扫查探头横向步进的距离为αs,α为大于1的整数,s为扫查探头侧向的扫描分辨率。
11、如权利要求10所述,其特征在于α的取值范围为,α≤(扫查探头横向最高分辨率÷扫查探头侧向分辨率)×2,α≥(扫查探头横向最高分辨率÷扫查探头侧向分辨率)÷2。
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