[发明专利]一种激光测距仪模拟检测装置

说明书

技术领域

本发明属于光电检测设备技术领域，具体涉及一种激光测距仪模拟检测装 置。

背景技术

各种激光测距系统，包括半导体激光测距机、固体激光测距机和CO₂激光 测距仪等，在制造调试过程中都要进行各部件的分离检测，其中心处理模块要 实现主要的逻辑控制计数功能，对其进行检测可以保证中心处理电路的正常工 作，而目前大多检测方法比较原始，效率很低，没有专有检测装置，或者检测 装置检测不方便，功能简单，不能很好的对中心处理模块进行检测。

发明内容

为解决现有技术存在的上述缺陷，本发明目的在于提供一种检测方便、功 能强大、效率较高、可扩展性好的激光测距仪模拟检测装置，该检测装置功能 模块化，易升级，可配置于多种激光测距仪模拟检测使用。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：该激光测距仪模拟检测装置 具有机壳，机壳上设有状态指示灯、数码显示管、功能操作键和插座，其特征 在于：所述机壳内设有与被测处理板连接的模拟测距控制模块、模拟上位机控 制传输模块、数据显示模块、状态显示模块和信号输入模块，所述模拟测距控 制模块外部需要通过拨码开关设置距离，产生模拟的主波采样和回波信号送给 被测处理板进行计数处理，被测处理板输出的29.97MHz信号、单次/重频信号 和触发信号连接模拟测距控制模块；被测处理板通过地址线、AEN、数据线、 写信号和读信号连接模拟上位机控制传输模块，模拟测距控制模块、被测处理 板和模拟上位机控制传输模块的输出通过多路选择器连接数据显示模块，模拟 上位机控制传输模块的输出连接状态显示模块，所述信号输入模块与模拟测距 控制模块、被测处理板、模拟上位机控制传输模块和多路选择器连接。

所述信号输入模块的模式、频率选择、发射启动和复位信号输送给被测处 理板，装载累加值信号输送给模拟测距控制模块，显示源选择信号输送给多路 选择器，测试信号、上位机发射和上位机启动信号输送给模拟上位机控制传输 模块。

所述模拟测距控制模块通过发射触发信号启动，发射触发信号分为两路触 发，一路依次经固定延迟2、触发器2和计数值模块输入减计数器模块触发， 另一路依次经固定延迟1和触发器1连接减计数器模块的cen端触发，高频时 钟连接减计数器模块的clk端，固定延迟1的输出经反向器1后与触发器2连 接用于清零，减计数器模块输出主波采样信号，减计数器模块还经过单稳态触 发器输出回波信号，回波信号经反向器2反馈连接触发器1用于清零。

所述模拟上位机控制传输模块由倍频后的150Hz t＝7ms时钟产生写读周 期时钟序列，一次写读周期时钟序列输出一个写周期和两个读周期，一个写周 期的触发信号输入写控制器，写控制器输出地址、数据和写信号；两个读周期 的触发信号输入读控制器，读控制器输出读信号、数码显示信号和状态显示信 号。

所述数据显示模块包括两个显示源，预置距离数据和模拟测距计数数据， 他们通过显示源选择按键进行控制。

所述状态显示模块，由多个发光二级管组成，不同的状态信号用相应的发 光二极管指示。

采用上述技术方案的有益效果：该激光测距仪模拟检测装置由模拟测距控 制模块、模拟上位机控制传输模块，数据显示模块、状态显示模块和信号输入 模块构成。模拟测距控制模块在FPGA中实现，外部需要通过拨码开关设置 距离，通过发射触发信号启动内部模块工作，产生模拟的主波采样和回波信号， 代替真实的通过激光发射和接收板所产生的信号，把主波采样和回波信号送给 被测处理板进行计数处理。模拟上位机控制传输模块，在FPGA中实现，传 输模块中包括自设计读写控制器，模拟上位机的写指令和读状态和读数据，并 可把状态和数据暂存，可依次显示，该模块可以容易根据不同的被测板而作对 应的扩展配置。数据显示模块，包括两个显示源，预置距离数据和模拟测距计 数数据，他们通过显示源选择按键进行控制来显示被测数据。状态显示模块， 由多个发光二级管组成，不同的状态信号用相应的发光二极管指示。例如发射 信号，主波采样、模拟回波、发射成功和多目标等信号。该激光测距仪模拟检 测装置提供一种采用FPGA(现场可编程门阵列)实现激光测距系统中心处理 模块的模拟检测，软件功能模块化，易升级，可配置，具有检测方便、功能强 大、效率较高、可扩展性好的优点。

附图说明

下面结合附图对本发明的具体实施例作进一步详细的说明。