[发明专利]一种低温度系数高电阻率热敏材料及其制备方法有效
申请号: | 200910060130.3 | 申请日: | 2009-07-28 |
公开(公告)号: | CN101618962A | 公开(公告)日: | 2010-01-06 |
发明(设计)人: | 陶明德;唐本栋;周军有 | 申请(专利权)人: | 四川西汉电子科技有限责任公司 |
主分类号: | C04B35/26 | 分类号: | C04B35/26;C04B35/45;C04B35/622;H01C7/04 |
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地址: | 611130四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 温度 系数 电阻率 热敏 材料 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及热敏材料技术领域,具体涉及一种低温度系数高电阻率热敏材 料及其制备方法。
背景技术
负温度系数热敏电阻包括:测控温热敏电阻、温度补偿热敏电阻和浪涌电 流吸收功率型热敏电阻三大类型。制作测控温热敏电阻材料的电阻率通常为几 百欧姆·厘米至几万欧姆·厘米,B值在3000K-5000K范围;温度补偿热敏电阻的 材料电阻率与测温热敏电阻材料参数相同;浪涌电流吸收功率型热敏电阻的材 料电阻率为几欧姆·厘米至几万欧姆·厘米,B值必须大于2600K。随着热敏电阻 应用的发展,一些特殊的元件,如汽车电子用热敏电阻、军工和航天领域用热 敏电阻以及各种电子元器件和半导体,各种传感器(如压力,湿度传感器)的 温度补偿用热敏电阻,要求热敏电阻具有较低的温度灵敏度和较高额定阻值。 用常规的热敏材料配方无法满足要求,尤其是对于温度系数α<±1%/℃,R25≥2KΩ 热敏电阻元件的制造,材料的制备成为一大难题。
负温度系数热敏材料是由Mn、Fe、Co、Ni、Cu过度金属氧化物,经陶瓷 工艺制成的陶瓷半导体。材料的电阻率
根据氧化物半导体的能带结构和导电机理,低温度系数(低B值)、高电阻 率热敏材料必须采用复合结构,利用不同结构的“加合效应”,使材料禁带中形成 杂级能级,以降低导带(或价带)底的能级密度和提高晶界势壘的高度。实验 表明用“尖晶石”结构与“钙钛矿”结构(或金经石结构)复合可以制备低温度系数、 高电阻率的负温度系数热敏材料。
发明内容
本发明为了弥补现有技术的不足,提供一种低温度系数高电阻率的热敏材 料及其制备方法。
为达到上述发明目的,本发明所采用的技术方案为:提供一种低温度系数 高电阻率热敏材料,其特征在于,所述热敏材料的原料包括Mn3O4、Fe2O3和CuO 过渡金属氧化物、由ZnO、C和Co3O4组成的合成物和另加入的Al2O3、Nb2O5杂质。
上述热敏材料的各种原料的含量如下:
Mn3O4 6%~10%;
Fe2O3 42%~46%;
CuO 41%~45%;
合成物 5.0%。
上述由ZnO、C和Co3O4组成的合成物中各个组成部分的含量如下:
ZnO 11%;
C 22%;
Co3O4 67%。
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