[发明专利]多重成像光刻装置以及方法有效

专利信息
申请号: 200910047580.9 申请日: 2009-03-13
公开(公告)号: CN101510057A 公开(公告)日: 2009-08-19
发明(设计)人: 蔡燕民 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F9/02
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所 代理人: 屈 蘅;李时云
地址: 201203上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 多重 成像 光刻 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种多重成像光刻装置,包括照明光源、掩模台、掩模、投影物镜及基底,其特征在于,还包括:

二元相位光栅,设置于上述掩模和上述投影物镜之间。

2.根据权利要求1所述的多重成像光刻装置,其特征在于,其中上述二元相位光栅为一达曼光栅。

3.根据权利要求1所述的多重成像光刻装置,其特征在于,其中上述多重成像光刻装置还包括一工件台,上述工件台承载上述基底。

4.根据权利要求3所述的多重成像光刻装置,其特征在于,其中上述多重成像光刻装置还包括一工件台定位控制系统,操作性的连接上述工件台并控制上述工件台的移动。

5.根据权利要求4所述的多重成像光刻装置,其特征在于,其中上述多重成像光刻装置还包括一系统控制单元,电性连接上述工件台定位控制系统。

6.根据权利要求1所述的多重成像光刻装置,其特征在于,其中上述基底为一标准12寸硅片。

7.根据权利要求6所述的多重成像光刻装置,其特征在于,其中上述标准12寸硅片上包括5*5个曝光视场。

8.一种多重成像曝光方法,适于一光刻装置,上述光刻装置包括照明光源、掩模台、掩模、投影物镜、基底以及二元相位光栅,上述二元相位光栅设置于上述掩模和上述投影物镜之间,上述多重成像曝光方法的特征在于,包括下列步骤:

全场调平调焦,将上述基底定位于上述投影物镜的焦平面上;

对准上述掩模和上述基底;以及

多重成像曝光上述基底。

9.根据权利要求8所述的多重成像曝光方法,其特征在于,其中上述二元相位光栅为一达曼光栅。

10.根据权利要求8所述的多重成像曝光方法,其特征在于,其中上述光刻装置还包括一工件台,上述工件台承载上述基底。

11.根据权利要求10所述的多重成像曝光方法,其特征在于,其中上述光刻装置还包括一工件台定位控制系统,操作性的连接上述工件台并控制上述工件台的移动。 

12.根据权利要求11所述的多重成像曝光方法,其特征在于,其中上述光刻装置还包括一系统控制单元,电性连接上述工件台定位控制系统。

13.根据权利要求8所述的多重成像曝光方法,其特征在于,其中上述基底为一标准12寸硅片。

14.根据权利要求13所述的多重成像曝光方法,其特征在于,其中上述标准12寸硅片上包括5*5个曝光视场。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电子装备有限公司,未经上海微电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910047580.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top