[发明专利]集成电路的接口多配置状态检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路的接口多配置状态生成技术，尤其涉及一种集成电路的接口多配置状态检测电路。

背景技术

在集成电路的设计过程中，经常会用到很多的接口配置状态，以满足集成电路各种方案的应用。在传统的做法中，会用到很多的接口来满足众多的配置状态，一般单个配置接口只有两种状态，要么逻辑‘1’，要么逻辑‘0’，如果集成电路需要很多种接口配置状态，那么就会需要很多的接口，例如，如果需要8种配置状态，则至少需要3个接口。由此看出，现有技术中集成电路接口生成多种配置状态信号的实现方式会造成集成电路的芯片成本上升，同时也不利于系统厂商的生产制造。

发明内容

本发明提供一种集成电路的接口多配置状态检测电路，在生成多种接口配置状态时能够有效减少集成电路的接口数目，降低芯片成本。

本发明提供的集成电路的接口多配置状态检测电路，包括：

接口配置状态信息产生电路，用于在接口上产生电压信息或电流信息；

与所述接口配置状态信息产生电路连接的接口配置状态信息处理电路，用于识别和处理至少两种所述电压信息或电流信息，生成配置状态信号。

由于本发明的接口配置状态信息处理电路可以将电压信息或电流信息转换成系统可以识别的配置状态信号，并且可以将输入的电压信息或电流信息处理成多种配置状态信号，例如，“1”和“0”的多种组合方式，因此，使得每个接口都可以配置多种状态，从而减少了接口的数量，降低了芯片的制造成本。

附图说明

图1为本发明的接口多配置状态检测电路的逻辑框图；

图2为一个实施例中接口多配置状态检测电路的电路图；

图3为一个实施例中接口多配置状态检测电路的电路图；

图4为一个实施例中接口多配置状态检测电路的电路图；

图5为一个实施例中接口多配置状态检测电路的电路图。

具体实施方式

以下参考图示详细说明本发明的实施例中所揭示的接口多配置状态检测电路。

图1是本发明的逻辑框图。如图所示，该实施例包括接口配置状态信息产生电路10和接口配置状态信息处理电路12。

接口配置状态信息产生电路10的主要功能是在接口11上产生多种配置状态信息，本发明中的配置状态信息既可以是电压信息也可以是电流信息。该接口配置状态信息产生电路10可以通过多种能够产生电压或电流信息的电路实现，例如，该接口配置状态信息产生电路可以通过电阻分压器实现，通过改变电阻的阻值，可以让电阻分压器向接口输出不同的电压值，从而产生不同的配置状态信息。该电阻分压器可以是在集成电路上，也可是集成电路的外围电路，也可以一部分在集成电路上，一部分在集成电路外面搭建。再如，该接口配置状态信息产生电路可以通过可编程的电压生成器或可编程的电流源实现；还可以通过电流源和电阻的串联电路实现，通过改变电流源电流或改变电阻阻值或同时改变两者均可以使接口生成多种状态信息。

接口配置状态信息处理电路12的主要功能为根据接口11上的配置状态信息产生出配置状态信号13。由于接口配置状态信息产生电路10产生的配置状态信息可能是系统无法识别的原始信号(例如模拟信号等)，因此通过接口配置状态信息处理电路12对原始信号进行识别和处理，将配置状态信息转换为系统可以识别的配置状态信号。该电路可以通过模数转换器实现，也可以通过多阈值电压比较器或电流比较器等能够将多种电压或电流信息转换为配置状态信号的电路实现。

由上可知，由于本发明的接口配置状态信息处理电路可以将电压信息或电流信息转换成系统可以识别的配置状态信号，并且可以将输入的电压信息或电流信息处理成多种配置状态信号，例如，“1”和“0”的多种组合方式，因此，使得每个接口都可以配置多种状态，从而减少了接口的数量，降低了芯片的制造成本。另外，可以看出，本发明的接口配置状态信息产生电路可以通过改变电路的具体参数而使得生产商按照实际需求将需要输出的电流信息和电压信息的阻值进行调整，从而便于制造商的生产制造。

图2是本发明的一种具体实现方式。如图所示，上述的接口配置状态信息产生电路10是由电阻分压器20实现的，其中包括相互串联的电阻R1和电阻R2，以及与电阻R1的另一端连接的正参考电压和与电阻R2的另一端连接的负参考电压，接口配置状态信息产生电路10的输出端连接到接口11上。

由此可知，接口11上的电压为：其中，V+为正参考电压，V-为负参考电压。从上面的公式可以看出，若改变V+，V-，R1和R2其中一项或者多项的值，就可以在接口11上产生多种电压信息。