[发明专利]基于M-ary结构分类器的模拟电子电路故障诊断方法

权利要求书

1.一种基于M-ary结构分类器的模拟电子电路故障诊断方法，包括如下步骤：

一.构建故障字典

1)首先需要对待测的电子电路进行故障模式的分析，确定故障的类型和数目；其次，对待测的电子电路系统进行可测性分析，确定电子电路的测试节点和测试激励；

2)对模拟电子电路施加与故障类型对应的测试激励后采用数据采集卡在步骤1所述的可测节点处采集模拟电子电路的输出响应信号；

3)将步骤2所述的输出响应信号经过傅里叶分析或小波变换提取故障特征；

其特征在于：

4)将步骤3所述的故障特征依次经过归一化和基于M-ary编码结构SVDD分类器得到训练参数，所述训练参数即构成故障字典；

二.故障诊断

5)将步骤4所述的故障字典内的信息作为基于M-ary编码结构的支持向量机的节点，即构成了基于M-ary编码结构的支持向量机分类器；

6)当待测的模拟电子电路运行时，则重复步骤2至3得到实际故障样本；

8)将步骤6所述的实际的故障样本经过步骤5所述的基于M-ary编码结构的支持向量机分类器输出故障模式；

步骤(4)所述故障字典的构建方法如下：

a)确定SVDD分类器的超球体子分类器的数目：其中N+1为故障类型的数目，N为自然数；

b)安排训练故障样本的标签；

c)将步骤b所述的标签过的故障样本经过步骤a所述相对应的超球体子分类器得到训练参数，保存所有故障样本对应的训练参数即构成一部故障字典。