[发明专利]光信息记录设备和记录校正计算方法

权利要求书

1.一种光信息记录设备，其通过根据从记录信息生成的记录信号而在记录介质上形成记录标记来对所述记录信息进行记录，所述记录标记的标记长度是多种类型的，并且是参考标记长度的整数倍，所述光信息记录设备包括：

补偿信息记录和再现部，其在通过根据从补偿记录信息生成的补偿记录信号而在所述记录介质上形成所述记录标记来对所述补偿记录信息进行记录之后，通过从所述记录介质读出所述补偿记录信息来生成再现信号，所述补偿记录信息是任意记录信息；

再现时钟生成部，其从所述再现信号生成再现时钟，所述再现时钟的周期与所述参考标记长度相对应；

分布参考电平确定部，其根据所述再现信号的白电平和黑电平的变化差异，将表示所述白电平的信号电平与所述白电平的信号电平出现的比率之间的相关性的分布曲线与表示所述黑电平的信号电平与所述黑电平的信号电平出现的比率之间的相关性的分布曲线交叉之处的点设置为分布参考电平；

校正计算部，其计算用于校正所述补偿记录信号的校正值以作为记录校正值，使得在基于所述再现时钟所确定的过目标定时附近的所述再现信号的信号电平变得更接近于所述分布参考电平；

记录信息记录部，其基于通过根据所述记录校正值对从所述记录信息生成的记录信息信号进行校正而生成的记录信号，在所述记录介质上形成记录标记。

2.如权利要求1所述的光信息记录设备，其中：

所述再现时钟生成部确保所述再现时钟的半个周期与半个所述参考标记长度相对应；

所述校正计算部确保所述过目标定时是所述再现时钟上升或下降的时间；并且

所述分布参考电平确定部在所述再现时钟下降或上升的另一定时将所述信号电平检测为所述白电平的信号电平或所述黑电平的信号电平。

3.如权利要求1所述的光信息记录设备，其中，

所述校正计算部基于过零定时与所述过目标定时之间的时间差来计算所述记录校正值，在所述过零定时处，所述再现信号变为所述分布参考电平。

4.如权利要求3所述的光信息记录设备，其中，

如果所述时间差大于或等于预定阈值，则所述校正计算部使得所述补偿信息记录和再现部根据所述记录校正值来校正所述补偿记录信号，并且执行所述补偿记录信息的记录和再现。

5.如权利要求4所述的光信息记录设备，其中，

所述校正计算部通过将所述时间差乘以小于或等于1的任意常数值来计算所述记录校正值。

6.如权利要求1所述的光信息记录设备，其中，

所述校正计算部计算所有标记长度的记录校正值。

7.如权利要求1所述的光信息记录设备，其中，

所述校正计算部计算标记长度和空白长度的每一种组合的记录校正值。

8.如权利要求1所述的光信息记录设备，其中，

所述记录介质是在其上记录三维记录标记的立体型记录介质。

9.一种记录校正计算方法，当通过根据从记录信息信号生成的记录信号而在记录介质上形成记录标记来对记录信息进行记录时，计算用于从所述记录信息生成的所述记录信息信号的记录校正值，所述记录标记的标记长度是参考标记长度的整数倍，所述记录校正计算方法包括：

补偿信息记录和再现步骤：在通过根据从补偿记录信息生成的补偿记录信号而在所述记录介质上形成所述记录标记来对所述补偿记录信息进行记录之后，通过从所述记录介质读出所述补偿记录信息来生成再现信号，所述补偿记录信息是任意记录信息；

再现时钟生成步骤：从所述再现信号生成再现时钟，所述再现时钟的周期与所述参考标记长度相对应；

分布参考电平确定步骤：根据所述再现信号的白电平和黑电平的变化差异，将表示所述白电平的信号电平与所述白电平的信号电平出现的比率之间的相关性的分布曲线与表示所述黑电平的信号电平与所述黑电平的信号电平出现的比率之间的相关性的分布曲线交叉之处的点设置为分布参考电平；以及

校正计算步骤：计算用于校正所述补偿记录信号的记录校正值，使得所述再现信号变得在基于所述再现时钟所确定的过目标定时附近更接近于所述分布参考电平。