[发明专利]光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法

权利要求书

1.一种光盘装置，对记录于光盘的规定信息进行处理，具备：

读取机构，读取所述规定信息；

特性判别机构，对所述光盘的反射特性进行判别；和

处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息，

所述反射特性，是指由所述光盘的记录完毕区域反射的光的反射率即 第一反射率大于由所述光盘的未记录区域反射的光的反射率即第二反射 率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一 方，

所述处理机构包括阈值变更机构，该阈值变更机构根据所判别出的所 述反射特性和对应于所述反射特性的光的反射大小，来变更用于检测所述 光盘的缺陷部分的阈值。

2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，还具备：

反射大小检测机构，检测由所述光盘所反射的光的反射大小；和

缺陷部分检测机构，根据由所述阈值变更机构变更后的所述阈值，和 由所述反射大小检测机构检测到的所述反射大小，检测出所述光盘的缺陷 部分。

3.一种信息处理装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具 备：

特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和

处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息，

所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射 率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即 第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特 性中的一方，

所述处理机构包括阈值变更机构，该阈值变更机构根据所判别出的所 述反射特性和对应于所述反射特性的光的反射大小，来变更用于检测所述 记录介质的缺陷部分的阈值。

4.根据权利要求3所述的信息处理装置，其特征在于，还具备：

反射大小检测机构，检测由所述记录介质所反射的光的反射大小；和

缺陷部分检测机构，根据由所述阈值变更机构变更后的所述阈值，和 由所述反射大小检测机构检测到的所述反射大小，检测出所述记录介质的 缺陷部分。

5.一种信息处理方法，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具 备：

读取步骤，读取所述规定信息；

特性判别步骤，对所述记录介质的反射特性进行判别；和

处理步骤，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息，

所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射 率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即 第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特 性中的一方，

所述处理步骤包括阈值变更步骤，该阈值变更步骤根据所判别出的所 述反射特性和对应于所述反射特性的光的反射大小，来变更用于检测所述 记录介质的缺陷部分的阈值。

6.根据权利要求5所述的信息处理方法，其特征在于，所述处理步 骤还包括：

反射大小检测步骤，检测由所述记录介质所反射的光的反射大小；和

缺陷部分检测步骤，根据由所述阈值变更步骤变更后的所述阈值，和 由所述反射大小检测步骤检测到的所述反射大小，检测出所述记录介质的 缺陷部分。

7.一种信息处理方法，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具 备：

特性判别步骤，对所述记录介质的反射特性进行判别；和

处理步骤，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息，

所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射 率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即 第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特 性中的一方，

所述处理步骤包括阈值变更步骤，该阈值变更步骤根据所判别出的所 述反射特性和对应于所述反射特性的光的反射大小，来变更用于检测所述 记录介质的缺陷部分的阈值。