[发明专利]光或放射线摄像装置

说明书

技术领域

本发明涉及医疗领域和非破坏检查、RI(Radio Isotope)检查、和光学检查等产业领域中使用的光或放射线摄像装置，特别涉及进行光或放射线检测的检测器的电路噪声除去技术。

背景技术

目前，光或放射线摄像装置中包括对光或放射线进行检测的光或放射线检测器。这里，所谓光是指红外线、可见光线、紫外线、放射线、γ射线等，在此以X射线检测器为例特别进行说明。对于X射线检测器，广泛使用的是平板探测器(下称FPD)，FPD使用有源矩阵基板检测X射线。若使用有源矩阵基板，则能够读入每个像素的X射线检测值，因此是非常有用的。

但是，在使用有源矩阵基板的FPD上作为电路噪声会产生时变噪声会。这是有源矩阵基板的布线或放大器电路产生的噪声等导致的。为了去除该时变噪声，提出了一种方法，将从修正用像素区域获得检测值作为时变噪声求出平均值，根据检测信号除去时变噪声，该修正用像素区域配置在FPD两端的不作为X射线检测用像素使用的区域、例如铅封的框体内的X射线屏蔽区域等。

例如，像专利文献1公开的那样，在FPD两端的修正用像素区域，通过切断薄膜晶体管(TFT：Thin Film Transistor)电路与X射线转换层来完全屏蔽放射线，检测出TFT电路、有源矩阵基板的布线和放大电路发生的时变噪声。

专利文献1：JP特开2003-87656号公报

然而，专利文献1公开的方法中，因为必须在FPD两端的修正用像素区域中切断TFT电路和放射线转换层，因此工序与X射线检测区域不同，费时费力。此外，在修正用像素区域的TFT电路存在缺损时，会将TFT电路的异常输出作为时变噪声检测。还存在如下问题：由于必须切断TFT电路和放射线转换层，所以无法将X射线检测元件作为修正用元件使用。

发明内容

本发明就是鉴于上述情况提出的，目的在于提供一种正确除去时变噪声的光或放射线摄像装置，而不受修正用像素区域的感应光或放射线的检测元件的异常输出的影响。

为了达到如上目的，本发明采取以下结构。

也就是说，本发明的光或放射线摄像装置，其特征在于，包括：光或放射线检测机构，以二维矩阵状设有多个检测元件，该检测元件感应光或放射线，从而生成电荷信号；读出机构，输送对所述光或放射线检测机构的二维矩阵的每一行读出所述电荷信号的开关信号；电荷电压转换机构，将从所述光或放射线检测机构逐行读出的电荷信号，分别逐列转换成电压信号；电压信号保持机构，对所述电荷电压转换机构转换之后的电压信号逐列进行规定时间的取样，并保持规定的时间；和图像处理部，根据所述电压信号保持机构保持了规定的时间的电压信号，构成摄像图像。所述检测元件被分为：设在所述光或放射线检测机构内的主像素区域的部分、和设在修正用像素区域的部分。还具有控制机构，其按照如下方式进行控制，对于在从设于所述修正用像素区域的所述检测元件开始到所述电荷电压转换机构的路径上不同于感应光或放射线而生成的电荷信号而另外生成的电荷信号，在所述开关信号被传输前，经所述电荷电压转换机构并由所述电压保持机构进行取样，从而得到修正用电压信号，并且对于所述主像素区域上生成的电荷信号，在所述开关信号被传输后，经所述电荷电压转换机构在所述电压保持机构中进行取样，从而得到主像素检测信号。所述图像处理部使用所述主像素检测信号和所述修正用电压信号，构成除去了时变噪声的摄像图像。

根据本发明的光或放射线摄像装置，在开关信号输送之前，对来自修正用像素区域内的检测元件的电压信号进行取样，就可以测定修正用电压信号，而不受修正用像素区域内的检测元件的异常输出和因散射光或散射射线而生成的电荷的影响。由此，得到可正确除去时变噪声的光或放射线摄像装置。

此外，对于修正用像素区域内的检测元件和主像素区域的检测元件，由于对电压信号取样的定时是有差异的，分别在开关信号输送的前和后，所以可以将主像素区域的检测元件当作修正用像素区域内的检测元件使用。

此外，图像处理部也可以包括：偏移信号除去部，从所述主像素检测信号和所述修正用电压信号中，除去偏移信号；时变噪声第1估算部，计算按行区分的时变噪声平均值，该按行区分的时变噪声平均值是除去偏移信号的所述修正用电压信号的各行的平均值；时变噪声第2估算部，计算时变噪声总平均值，该时变噪声总平均值是按行区分的时变噪声平均值的所有行的平均值；时变噪声第3估算部，从按行区分的时变噪声平均值减去时变噪声总平均值，计算各行的时变噪声；和时变噪声除去部，从所述主像素检测信号中，减去对应的各行的时变噪声。