[发明专利]增强型虚拟扫描线处理有效
| 申请号: | 200880117067.6 | 申请日: | 2008-11-19 |
| 公开(公告)号: | CN101874250A | 公开(公告)日: | 2010-10-27 |
| 发明(设计)人: | R·W·鲁迪恩 | 申请(专利权)人: | 数据逻辑扫描公司 |
| 主分类号: | G06K7/10 | 分类号: | G06K7/10;G06K9/20;G02B5/00 |
| 代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 增强 虚拟 扫描 处理 | ||
1.一种解码光学码的方法,其包括:
接收与所述光学码的已获图像的子区域对应的第一数据集;
利用第一组边缘检测参数检测所述第一数据集中的第一组边缘跳跃位置;
基于所述第一组边缘跳跃位置,确定所述第一数据集是否包含有用数据;
基于所述第一数据集是否包含有用数据的确定,使用不同组的边缘检测参数确定有用数据中不同组的边缘跳跃位置;和
基于所述不同组的边缘跳跃位置解码所述有用数据。
2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:
获得所述光学码的图像。
3.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:
将所解码的有用数据与其他解码的数据合并在一起以形成解码的代表所述光学码的数据集;以及
存储所解码的代表所述光学码的数据集。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述子区域包括虚拟扫描线。
5.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述第一数据集是否包含有用数据的步骤包括识别所述第一数据集中的至少一个有效字符。
6.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述第一数据集是否包含有用数据的步骤包括识别所述第一数据集中的悬空字符。
7.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述第一数据集是否包含有用数据的步骤包括识别所述第一数据集中边缘跳跃的总数,该值与期望的边缘跳跃的总数不同。
8.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述第一数据集是否包含有用数据的步骤包括确定所述第一组边缘跳跃位置中的边缘跳跃的总数是否超出预定数量。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述不同组的边缘检测参数包括的最小调制百分比与用于所述第一组边缘检测参数的最小调制百分比不同。
10.根据权利要求1所述的方法,其中所述不同组的边缘检测参数包括的窗口阈值与用于所述第一组边缘检测参数的窗口阈值不同。
11.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:
基于所述第一数据集是否包含有用数据的确定,放大所述有用数据的一个或多于一个空间频率并确定由于放大所产生的所述有用数据中不同组的边缘跳跃位置。
12.根据权利要求1所述的方法,其中对应于所述子区域的所述第一数据集选自一个图形中相对彼此定位的一组子区域,并且进一步包括:
基于所述第一数据集是否包含有用数据的确定,在随后的数据帧中改变图形以收集接近于包含所述有用数据的子区域的所述光学码的额外数据。
13.一种机器可读介质,其上存储的计算机可读程序指令用于执行权利要求1所述的解码来自光学码数据的方法。
14.一种读取光学码的方法,其包括以下步骤:
基于第一组边缘检测参数识别包含有用数据的光学码的已获图像的至少一个子区域;
改变所述第一组边缘检测参数以形成不同组的边缘检测参数;和
基于所述不同组的边缘检测参数解码所述有用数据。
15.根据权利要求14所述的方法,进一步包括:
将所解码的有用数据与其他解码的数据合并在一起以形成代表所述光学码的解码的数据集;以及
存储所解码的代表所述光学码的数据集。
16.根据权利要求14所述的方法,进一步包括:
在基于所述不同组的边缘检测参数解码所述有用数据的步骤之前将所述有用数据存储在存储器中,从而允许基于所述第一组边缘检测参数识别已获图像的其他子区域中的有用数据。
17.根据权利要求14所述的方法,其中识别包含有用数据的至少一个子区域的步骤包括识别所述光学码中的至少一个有效字符或悬空字符。
18.根据权利要求14所述的方法,其中识别包含有用数据的至少一个子区域的步骤包括识别所述光学码中丢失的边缘跳跃或额外的边缘跳跃。
19.根据权利要求14所述的方法,其中改变所述第一组边缘检测参数包括改变所述第一组边缘检测参数的最小调制百分比或窗口阈值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于数据逻辑扫描公司,未经数据逻辑扫描公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880117067.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:热交换器、电子设备收纳箱和电子设备试验箱
- 下一篇:双焦距透镜系统





