[发明专利]信号处理设备无效

专利信息
申请号: 200880112679.6 申请日: 2008-10-07
公开(公告)号: CN101836146A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 关矢俊之;早川健;原冈和生;服部正明;金子直树;近藤哲二郎 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G02B6/42 分类号: G02B6/42;G02B6/28
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 杜娟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 信号 处理 设备
【权利要求书】:

1.一种信号处理设备,包括:

光波导,具有在导光单元的外周上形成的光输入输出表面,光透过该导光单元传输,其中,从所述输入输出表面的任意位置输入的光在全周方向上以对应于与输入位置之间的位置关系的等级被输出;

主基片,布置在所述光波导的外周上,并且设有用于将电信号转换成要输出的光的光输出单元和用于将输入光转换成电信号的光输入单元;及

单个或多个从属基片,布置在沿所述光波导的外周的不同位置处的多个安装位置中的任意安装位置上,并且设有用于将电信号转换成要输出的光的光输出单元和用于将输入光转换成电信号的光输入单元,

其中,所述主基片从在光从布置在所述光波导的外周上的全部从属基片的光输出单元输出时与所述从属基片的排列相对应地透过所述光波导传输并输入到所述主基片的光输入单元的光的等级,识别所述从属基片的安装位置和数量。

2.根据权利要求1所述的信号处理设备,

其中,所述主基片保持输入等级表,在该输入等级表中,与所述从属基片的排列相对应地输入到所述主基片的光输入单元的光的等级与规定所述从属基片的位置和数量的排列信息相关联,以及

所述主基片基于在光从布置在所述光波导的外周上的全部从属基片的光输出单元输出时所述主基片的光输入单元的输入值,搜索所述输入等级表以获得所述从属基片的排列信息。

3.根据权利要求2所述的信号处理设备,

其中,所述从属基片在光从另一从属基片的光输出单元被输出时,保持其自身设备的光输入单元的输入值,以及

其中,当从所述输入等级表中获得多个排列信息候选对象时,所述主基片预测在其位置由相应排列信息规定的从属基片中的光输入单元的输入值,并且选择其中由所述从属基片保持的输入值与由所述主基片计算出的预测值相匹配的排列信息。

4.根据权利要求2所述的信号处理设备,

其中,所述从属基片在光从另一从属基片的光输出单元被输出时,保持其自身设备的光输入单元的输入值,

其中,所述主基片预测在其位置由相应排列信息规定的从属基片中的光输入单元的输入值,以与识别信息一起从所述光输出单元输出,并且被发送到布置在所述光波导的外周上的全部从属基片,及

其中,当保持有与从所述主基片接收的预测值相对应的输入值时,所述从属基片将从所述主基片接收的识别信息设置为分配给其自身设备的识别信息。

5.根据权利要求1所述的信号处理设备,

其中,在所述主基片和所述从属基片利用其中光输入单元的输入值变成恒定的变化、和其中光输入单元的恒定输入值减小的变化时,

所述主基片执行检查在所述光波导的外周上按任意数量布置的全部从属基片的光输出单元的接通和断开的处理,并且所述从属基片执行检查所述主基片的光输出单元的断开的处理。

6.根据权利要求5所述的信号处理设备,

其中,所述主基片在检查到布置在所述光波导的外周上的全部从属基片的光输出单元的接通时,执行找出从属基片并获得其自身设备的光输入单元的输入值的处理,并且在检查到全部从属基片的光输出单元的断开时,执行检查在从属基片中的处理是否结束的处理,并且

其中,在检查到所述主基片的光输出单元的断开时,从属基片也执行保持其自身设备的光输入单元的输入值并断开光输出单元的处理。

7.根据权利要求6所述的信号处理设备,

其中,在所述主基片和所述从属基片使用光输入单元的输入值的微分系数从正值到0的变化、从负值到0的变化、或其中微分系数变成0并且输入值变成恒定的变化、和光输入单元的输入值的积分值的微分系数从正值到0的变化、从负值到0的变化、或其中积分值变成恒定值的变化、及其中光输入单元的输入值变成0的变化中的任一种、或多种处理的组合时,

所述主基片执行找出从属基片并获得其自身设备的光输入单元的输入值的处理、和检查在从属基片中的处理是否结束的处理,并且从属基片也执行保持其自身设备的光输入单元的输入值并断开光输出单元的处理。

8.根据权利要求7所述的信号处理设备,

其中,所述主基片和所述从属基片包括用来计算光输入单元的输入的微分值的微分电路、用来计算输入值的积分值的积分电路、及用来计算输入值的积分值并计算其微分值的微分积分电路中的任一个。

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