[发明专利]等离体子增强型电磁辐射发射器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200880100629.6 申请日: 2008-07-16
公开(公告)号: CN101765764A 公开(公告)日: 2010-06-30
发明(设计)人: D·法塔尔;N·J·奎托里亚诺;H·曹;M·菲奥伦蒂诺;T·I·卡明斯 申请(专利权)人: 惠普开发有限公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李娜;王洪斌
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 离体子 增强 电磁辐射 发射 器件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种电磁辐射发射器件(100),包括:

多层核(106),所述多层核具有内层(110)和外层(112),其 中该外层被配置为围绕该内层的至少一部分;

金属器件层(108),其被配置成围绕该外层的至少一部分;以及

衬底(104),所述衬底具有与所述内层电通信的底部传导层(118) 以及与所述金属器件层电通信的顶部传导层(122)以使得当在所述底 部传导层和所述顶部传导层之间施加适当的电压时所述内层(110)、 外层(112)和金属器件层(108)的暴露的部分发射表面等离体子增 强的电磁辐射,其中该内层(110)是p型半导体而外层(112)是n 型半导体;或者该内层(110)是n型半导体而外层(112)是p型半 导体。

2.权利要求1的器件,还包括位于内层(110)和外层(112)之 间的中间层(114)以使得该中间层是耗尽区或者由本征半导体组成。

3.权利要求1的器件,其中所述顶部传导层(122)还包括下列 之一:

金属层;以及

半导体层。

4.权利要求1的器件,其中所述底部传导层(118)还包括下列 之一:

绝缘体上硅衬底的Si层;以及

半导体层。

5.一种制造电磁辐射发射器件(100)的方法,该方法包括:

在半导体衬底(118)上形成介电层(120),该介电层具有顶表 面和附连到所述半导体衬底的底表面;

在所述介电层的顶表面上形成多层核(106),该多层核包括内层 和围绕该内层的至少一部分的外层,该内层延伸通过该介电层并且与 所述半导体衬底电接触,其中该内层(110)是p型半导体而外层(112) 是n型半导体;或者该内层(110)是n型半导体而外层(112)是p 型半导体;

在所述多层核和介电层的整个暴露表面上沉积金属层(404);以 及

通过平坦化所述电磁辐射发射器件以暴露形成多层核的暴露部分 的内层、外层和金属层的部分来形成顶表面。

6.权利要求5的方法,其中形成多层核还包括:

在介电层(120)中形成开口(202);

在开口中沉积种子材料(402);

在开口中生长柱形式的内层(110),其中开口中的种子材料用作 用于形成该柱的晶核;

沉积外层(112)。

7.权利要求6的方法,还包括使用下列之一来在金属层上沉积金 属、半导体或介电材料的任选层:

化学汽相沉积;以及

物理汽相沉积。

8.权利要求6的方法,其中在开口中生长柱形式的内层还包括汽 -液-固处理。

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