[发明专利]等离体子增强型电磁辐射发射器件及其制造方法有效
申请号: | 200880100629.6 | 申请日: | 2008-07-16 |
公开(公告)号: | CN101765764A | 公开(公告)日: | 2010-06-30 |
发明(设计)人: | D·法塔尔;N·J·奎托里亚诺;H·曹;M·菲奥伦蒂诺;T·I·卡明斯 | 申请(专利权)人: | 惠普开发有限公司 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李娜;王洪斌 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 离体子 增强 电磁辐射 发射 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种电磁辐射发射器件(100),包括:
多层核(106),所述多层核具有内层(110)和外层(112),其 中该外层被配置为围绕该内层的至少一部分;
金属器件层(108),其被配置成围绕该外层的至少一部分;以及
衬底(104),所述衬底具有与所述内层电通信的底部传导层(118) 以及与所述金属器件层电通信的顶部传导层(122)以使得当在所述底 部传导层和所述顶部传导层之间施加适当的电压时所述内层(110)、 外层(112)和金属器件层(108)的暴露的部分发射表面等离体子增 强的电磁辐射,其中该内层(110)是p型半导体而外层(112)是n 型半导体;或者该内层(110)是n型半导体而外层(112)是p型半 导体。
2.权利要求1的器件,还包括位于内层(110)和外层(112)之 间的中间层(114)以使得该中间层是耗尽区或者由本征半导体组成。
3.权利要求1的器件,其中所述顶部传导层(122)还包括下列 之一:
金属层;以及
半导体层。
4.权利要求1的器件,其中所述底部传导层(118)还包括下列 之一:
绝缘体上硅衬底的Si层;以及
半导体层。
5.一种制造电磁辐射发射器件(100)的方法,该方法包括:
在半导体衬底(118)上形成介电层(120),该介电层具有顶表 面和附连到所述半导体衬底的底表面;
在所述介电层的顶表面上形成多层核(106),该多层核包括内层 和围绕该内层的至少一部分的外层,该内层延伸通过该介电层并且与 所述半导体衬底电接触,其中该内层(110)是p型半导体而外层(112) 是n型半导体;或者该内层(110)是n型半导体而外层(112)是p 型半导体;
在所述多层核和介电层的整个暴露表面上沉积金属层(404);以 及
通过平坦化所述电磁辐射发射器件以暴露形成多层核的暴露部分 的内层、外层和金属层的部分来形成顶表面。
6.权利要求5的方法,其中形成多层核还包括:
在介电层(120)中形成开口(202);
在开口中沉积种子材料(402);
在开口中生长柱形式的内层(110),其中开口中的种子材料用作 用于形成该柱的晶核;
沉积外层(112)。
7.权利要求6的方法,还包括使用下列之一来在金属层上沉积金 属、半导体或介电材料的任选层:
化学汽相沉积;以及
物理汽相沉积。
8.权利要求6的方法,其中在开口中生长柱形式的内层还包括汽 -液-固处理。
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