[发明专利]抖动校准

说明书

技术领域

本专利申请一般地涉及抖动校准，并且更具体地，涉及在通信信 道中的抖动的校准。

背景技术

自动测试设备(ATE)是指自动化地，通常由计算机驱动的，用 于测试器件的途径，器件诸如半导体、电子电路、以及印刷电路板配 件。通过ATE测试的器件被称为被测器件，或者称为DUT。

在一种类型的测试期间，ATE将抖动添加到测试信号，并且观察 DUT对于抖动的反应。诸如此类的测试提供DUT对抖动的容许度的指 示。然而，由于沿着ATE和DUT之间的通信路径将抖动引入测试信号 中而导致了问题的产生。更具体地，由于沿着通信路径将抖动引入测 试信号中，因此在对DUT连接处的测试信号中的抖动不同于ATE期望 处于测试信号中的抖动，即，ATE已经添加到测试信号中的抖动。在 实际抖动和期望抖动之间的该差异可能不利地影响由ATE执行的测 试。

发明内容

本专利申请描述了在测试设备和DUT之间的通信信道中的抖动 的校准。

一般地，本专利申请描述了一种对在测试设备和用于对在被测器 件(DUT)的连接之间的通信信道中的抖动进行校准的方法。该方法 包括在大约连接点处对通信信道中的测试数据进行采样，以产生采样 数据。测试数据以第一速率传输经过通信信道，并且以小于第一速率 的第二速率来对测试数据进行采样。该方法还包括确定与测试数据相 关的采样数据中的第一抖动量，并且基于该第一抖动量来确定在大约 连接点处的第二抖动量。该方法还可以单独地或组合地包括下述特征 中的一个或多个。

第一抖动量可以包括在采样期间所引入的第三抖动量。确定第二 抖动量可以包括：对第一抖动量进行的处理，以基本上消除第三抖动 量的影响。

第三抖动量(J₃)可以包括由用于执行采样的器件所引入的抖动 (J₄)，以及由用于对器件进行计时的选通脉冲(strobe)所引入的抖动 (J₅)。第二抖动量(J₂)可以如下确定：

J2=(J12-J42-J52)]]>

其中，J₁与第一抖动量相对应。

第三抖动量(J₃)可以包括由用于执行采样的器件所引入的抖动 (J₄)。第二抖动量(J₂)可以如下确定：

J2=(J12-J42)]]>

其中，J₁与第一抖动量相对应。

用于执行采样的器件可以包括锁存比较器和/或D触发器。该方法 进一步包括将抖动添加到测试数据。该抖动可以包括周期性抖动和确 定性抖动中的至少一种。