[发明专利]使用太赫辐射的成像方法和装置有效
申请号: | 200880013117.6 | 申请日: | 2008-08-27 |
公开(公告)号: | CN101663575A | 公开(公告)日: | 2010-03-03 |
发明(设计)人: | 笠井信太郎;尾内敏彦 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 罗银燕 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 辐射 成像 方法 装置 | ||
1.一种使用太赫波的成像方法,包括:
产生太赫波的产生步骤;
使用在所述产生步骤中产生、并且透射穿过检查对象或被所述检 查对象反射的太赫波来获取所述检查对象的第一傅立叶变换图像的步 骤;
获取要被用作所述第一傅立叶变换图像的空间频率滤波器的第二 傅立叶变换图像的步骤;
对所述第一傅立叶变换图像和所述第二傅立叶变换图像执行算术 运算处理的步骤;以及
获取在执行算术运算处理的步骤中所获取的图像的逆傅立叶变换 图像的步骤,
其中,获取第二傅立叶变换图像的步骤包括:
产生具有与在所述产生步骤中被产生以获取所述第一傅立叶 变换图像的太赫波不同的中心频率的第二太赫波的步骤;以及
光学地获取透射穿过所述检查对象或被所述检查对象反射的 所述第二太赫波的傅立叶变换图像的步骤,以及
其中,在对所述第一傅立叶变换图像和所述第二傅立叶变换图像 执行算术运算处理的步骤中,从所述第一傅立叶变换图像光学地去除 或通过电学算术运算处理而减去所述第二傅立叶变换图像。
2.一种使用太赫波的成像方法,包括:
产生太赫波的产生步骤;
使用在所述产生步骤中产生、并且透射穿过检查对象或被所述检 查对象反射的太赫波来获取所述检查对象的第一傅立叶变换图像的步 骤;
获取要被用作所述第一傅立叶变换图像的空间频率滤波器的第二 傅立叶变换图像的步骤;
对所述第一傅立叶变换图像和所述第二傅立叶变换图像执行算术 运算处理的步骤;以及
获取在执行算术运算处理的步骤中所获取的图像的逆傅立叶变换 图像的步骤,
其中,获取第二傅立叶变换图像的步骤包括:
通过可见光获取所述检查对象的实像的步骤;
获取通过可见光获取的所述实像的二值化图像的步骤;以及
通过电学算术运算处理使二值化的实像经受傅立叶变换的步 骤,以及
其中,在对所述第一傅立叶变换图像和所述第二傅立叶变换图像 执行算术运算处理的步骤中,从所述第一傅立叶变换图像光学地去除 或通过电学算术运算处理而减去所述第二傅立叶变换图像。
3.根据权利要求1或2的成像方法,其中,所述成像方法还包括 使产生的太赫波准直的步骤,并且,所述第一傅立叶变换图像被光学 地获取。
4.根据权利要求1或2的成像方法,其中,获取第一傅立叶变换 图像的步骤包括:
使用在所述产生步骤中产生、并且透射穿过所述检查对象或被所 述检查对象反射的太赫波来光学地获取所述检查对象的实像的步骤; 和
通过电学算术运算处理使光学地获取的所述实像经受傅立叶变换 的步骤。
5.一种成像装置,包括:
用于用包含30GHz至30THz的频率成分的准直相干电磁波照射 检查对象的机构;
用于通过光学单元使用来自所述检查对象的透射电磁波或反射电 磁波来获取所述检查对象的傅立叶变换图像的机构;
用于对所述傅立叶变换图像执行空间频率滤波处理的机构;以及
用于对经受了所述空间频率滤波处理的所述傅立叶变换图像执行 逆傅立叶变换的机构,
其中,用于获取傅立叶变换图像的机构适于使用来自所述检查对 象的第一电磁波获取所述检查对象的第一傅立叶变换图像,并适于使 用来自所述检查对象的第二电磁波获取所述检查对象的第二傅立叶变 换图像,所述第一电磁波和所述第二电磁波具有相互不同的中心频率, 以及
其中,用于执行空间频率滤波处理的机构适于从所述第一傅立叶 变换图像光学地去除或通过电学算术运算处理而减去所述第二傅立叶 变换图像。
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