[实用新型]一种调试系统无效

专利信息
申请号: 200820173664.8 申请日: 2008-10-24
公开(公告)号: CN201282537Y 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 王伟;肖龙光;杨元成 申请(专利权)人: 青岛海信电器股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N17/04
代理公司: 青岛联智专利商标事务所有限公司 代理人: 邵新华
地址: 266100山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 调试 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型属于调试系统技术领域,具体地说,是涉及一种使用高频头的机顶盒或电视机产品的前端调试系统。

背景技术

对于使用高频头来接收射频信号的机顶盒或者电视机产品来说,在产品生产过程中都需要对高频头的工作性能进行调试。对于目前普遍使用的硅高频头来说,其调试板在调试过程中需要将硅高频头输出的差分信号一方面输出给解调器芯片进行联调,另一方面需要传输到频谱仪分析硅高频头输出的差分信号的频谱。

对于现有的调试系统来说,一般都采用以下两种调试方式:

一种是,将硅高频头的调试和解调器芯片的调试设计在同一块调试板上,如图1所示,一方面将硅高频头输出的差分信号通过PCB走线传输至解调器芯片的差分输入端,另一方面还需将硅高频头输出的差分信号通过飞线(即焊接线)连接到频谱仪上,以对硅高频头输出的差分信号的频谱进行分析。在将硅高频头与频谱仪连接时,将硅高频头的差分信号输出端的一端连接到频谱仪的接地端,另一端连接到频谱仪的信号输入端。这种调试方式不仅会因为飞线引入的干扰导致测试有误差,而且在发生频谱仪的地打火时,还会将硅高频头芯片损坏。

另一种是,将硅高频头的调试和解调器芯片的调试设计在两块不同的调试板上,如图2所示,硅高频头将输出的差分信号传输到解调器芯片进行联调,通常的做法是用飞线(即焊接线)将差分信号连接到解调器芯片的差分输入端,这样做会通过增加的飞线引入干扰,从而导致测试的不准确;另一方面还需将硅高频头输出的差分信号通过飞线连接到频谱仪上,以分析硅高频头输出的差分信号的频谱,此时,需要将硅高频头的差分信号输出端的一端连接到频谱仪的接地端,另一端连接到频谱仪的信号输入端,这样不仅会由于使用飞线导致测试有误差,而且在频谱仪的地打火时还会对硅高频头芯片造成损坏。

基于此,亟待出现一种安全有效的调试系统以实现对高频头工作性能的准确调试。

实用新型内容

本实用新型为了解决现有高频头调试系统测试不准确、易造成高频头芯片损坏的问题,提供了一种安全可靠的高频头调试系统,有效避免了在调试过程中采用飞线连接所造成的干扰及芯片损坏等弊端。

为解决上述技术问题,本实用新型提出以下两种技术方案予以实现:

一种技术方案是将高频头和解调器设置在同一块调试板上,并在所述的调试板上设置耦合器和标准接口,所述高频头的差分信号输出端一方面连接解调器的差分输入端,另一方面连接耦合器,经耦合器将差分信号转换为单端信号后,通过标准接口连接频谱仪。

优选的,所述高频头的差分信号输出端通过PCB走线分别与解调器和耦合器对应连接,所述耦合器与标准接口之间也通过PCB走线相连接。

进一步的,所述标准接口的单端信号传输脚和接地脚分别与频谱仪的信号输入端和接地端对应连接。

又进一步的,所述标准接口通过设有两个标准接口的屏蔽线连接频谱仪,以保证传输信号不受干扰。

再进一步的,所述耦合器为耦合变压器;所述标准接口为射频信号标准接口。

另外一种技术方案是将高频头和解调器分别设置在两块不同的调试板上;并在所述高频头调试板上和解调器调试板上分别设置耦合器和标准接口;其中,在所述高频头调试板上,高频头的差分信号输出端连接耦合器,经耦合器将差分信号转换为单端信号后,通过标准接口一方面连接频谱仪,另一方面连接解调器调试板上的标准接口;在所述解调器调试板上,通过标准接口接收到的单端信号经该调试板上的耦合器转换为差分信号后,连接解调器的差分输入端。

优选的,在所述高频头调试板上,所述高频头、耦合器和标准接口之间通过PCB走线进行连接;在所述解调器调试板上,标准接口通过PCB走线将接收到的单端信号传输至该板上的耦合器,通过所述耦合器转换输出的差分信号通过PCB走线连接到解调器的差分输入端。

进一步的,在所述高频头调试板上设置有两个标准接口,一个将耦合器输出的单端信号通过设有两个标准接口的屏蔽线传输至频谱仪,另一个将所述单端信号通过设有两个标准接口的屏蔽线与解调器调试板上的标准接口相连接。

又进一步的,在所述高频头调试板上,与频谱仪相连接的标准接口的单端信号传输脚和接地脚分别与频谱仪的信号输入端和接地端对应连接。

再进一步的,所述耦合器为耦合变压器;所述标准接口为射频信号标准接口。

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