[实用新型]一种针对LGA775平台输出电压的测试装置无效

专利信息
申请号: 200820153533.3 申请日: 2008-09-26
公开(公告)号: CN201262633Y 公开(公告)日: 2009-06-24
发明(设计)人: 周济;杨军 申请(专利权)人: 上海华北科技有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00;G06F11/22
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 代理人: 吴瑾瑜
地址: 200233上海市徐*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 针对 lga775 平台 输出 电压 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种针对LGA775平台输出电压的测试装置,其特征在于包括一基板(150),其一面上设置有若干与主板(110)之呈矩形状触电对应的测试点(151),另一面设置有一可编程逻辑电路(150),以及一与所述可编程逻辑电路(150)相连接的控制板(100),在该控制板(100)上设有一显示模块(1701)和一VID组合调节模块(1702)。

2.按照权利要求1所述的一种针对LGA775平台输出电压的测试装置,其特征在于所述的VID组合调节模块(1702)由一插入式组合开关以及多个电阻组成。

3.按照权利要求1所述的一种针对LGA775平台输出电压的测试装置,其特征在于所述的VID组合调节模块(1702)与主板(110)上VRD电压模块相连。

4.按照权利要求1、2或3所述的一种针对LGA775平台输出电压的测试装置,其特征在于所述的显示模块(1701)为LED。

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