[实用新型]探针研磨装置

说明书

技术领域

本实用新型关于一种探针研磨装置，特别是关于一种可利用驱动装置来升降探针座的探针研磨装置。

背景技术

随着科技进步，具有省电、无幅射、体积小、低耗电量、平面直角、高解析度、画质稳定等多项优势的液晶显示器，为原先处独占地位的传统映像管屏幕(简称CRT)带来了莫大的冲击，尤其是现今各式信息产品如：手机、笔记型计算机、数字相机、PDA、液晶屏幕等产品越来越普及，亦使得液晶显示器(LCD)的需求量大大提升。

液晶显示器主要由一液晶显示面板以及一背光模组(Backlight module)所组成。其中液晶显示面板是由一彩色滤光片基板(Color filtersubstrate)、一薄膜晶体管数组基板(TFT array substrate)以及配置于此两基板之间的液晶层所构成，而背光模组是用以提供此液晶显示面板所需的面光源，以使液晶显示器达到显示的效果。由此可知，「液晶显示面板」的优劣，直接影响了整个显示器的质量。因此，面板制造质量的优劣，自然占有决定性的地位。

一般而言，液晶显示面板的制造过程，通常是在一大型基板上，同时形成多个尺寸相同的面板。每个面板中具有多条垂直的源极线，与多条水平的栅极线，且源极线以与门极线的交点，乃构成了液晶显示面板的图素数组。当面板形成后，必须先对面板逐一进行检测，以了解所制造出来的面板其功能是否正常。

目前，业界最普遍使用的面板检测方法，乃是利用与面板相同尺寸的一探针组(Probe unit)。探针组具有复数个探针座(Block)，而复数根用以检测的探针便是装设于该探针座中。其中，探针座的位置可经由设计使其对应于该些源极线的复数个源极垫以与门极线的复数个栅极垫，再藉由探针与面板的源极垫以与门极垫的接触，检测个别的源极垫或门极垫是否导通，便可得知每一源极线以与门极线是否正常运作。在检测完成后，才会进一步切割为个别的面板。

请参阅图1A，为公知探针座1的侧视剖面示意图。此探针座1主要具有一电路板11，以及复数根与电路板11连接的探针12。其中，复数根探针12均分别具有一与电路板11固接的连接端121，以及一用于与面板的源极垫或门极垫做接触的接触端122。

当进行面板测试时，探针座1上的每一接触端122必须与其欲接触面板上的电极垫相互对应。同时，每一根探针12的接触端(即针尖)122到电路板11的垂直距离T皆须具有一致性，以使每一根探针12都能准确且平均地与面板上的每一个电极垫做电性接触，而进行不同的电性准位、参数或功能等种种测试，并得到精确且具有参考价值的测试结果。

为使探针座1在进行测试之前，每一根探针12的接触端122均具有一定程度的平坦度，且其到电路板11的垂直距离T都相同，故必须对探针12的接触端122进行研磨，使探针座1上的每一个接触端122均位于同一个平面上。

请参考图一B，其绘示一公知探针研磨方法。一般来说，以往探针研磨作业大多由操作人员手持一探针座1，将探针座1上的各个接触端122接触研磨片2(此处为砂纸)以进行研磨。由于各个探针12是呈细针状，且探针座1上皆设有为数众多的探针12，故操作人员在一一研磨其接触端122时，必须相当谨慎以使每一接触端122达同一平面，十分耗时且劳心费力。

然而，手工研磨探针12的方法，并无法使各接触端122皆以相同的角度被研磨。再者，操作人员亦无法精准地控制其研磨的力道。因此，对于探针12的接触端122而言，其每一刻所承受的研磨力量以及研磨角度等均有所不同，进而导致探针12的接触端122不能呈同一平面，如图一C所示。更甚者，探针12也可能会因为操作人员施力的不当致使发生歪折。

倘若探针12的接触端122不呈一水平面，亦即探针座1具有探针参差不齐的问题时，便有可能会在面板检测的过程中产生假情报，例如：栅极断路(Gate open)、源极断路(Source open)、源极线短路(Source line short)或门极线短路(Gate line short)等，而影响了整颗探针座1的测试精确度，亦或造成了探针座1的损坏而无法再于后续测试作业中使用等状况。此时，工厂必须买一颗新的探针座1来替换，反而增加了整体耗材成本。

因而，在国内面板产业发展蒸蒸日上，面板测试作业的精准度日益受到重视的同时，如何快速又精准地研磨探针座上的复数根探针，以准确地测量出面板的各项功能以及电性参数，并控管面板的制造质量，已然成为目前各相关领域的设计者亟思发展的目标。

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