[实用新型]探针握具

说明书

【技术领域】

本实用新型有关一种握具，特别是指一种探针握具。

【背景技术】

现有的时域反射探针(Time Domain Reflector probe；TDR probe)的矩形头部并不适合在PCB内作微量的阻抗测量，因尺寸太大而无法胜任于测点之间的间间距小于2.54mm的测量，探针间距的调整只能作几个固定间距的调整，而无法调到最适合的间距来做测量，并且时域反射探针和耗材的费用高、来源不多，使用者无法自行维修更换刚性探针，需送回原厂维修，最高频宽只有6Ghz。

有鉴于此，实有必要提供一种探针握具，利用该探针握具，探针间距可作无段调整，而来微调到最适合的间距来做测量，测点之间的间距小于2.54mm，可在印刷电路板内作微量阻抗的测量，使用刚性探针，来源多且不需送回原厂维修，相对耗材的费用较低，最高频宽可因刚性探针的材质等级而有较多的选择而不受限于单一频宽，不需原厂修改工具本身的软硬件来作校准，使用者可自行维修更换刚性探针，具有快速拆卸/组装的优点，具有零组件互通避免客制化零组件无法互通的缺点，改善工作效率，用共通零组件达成客制化要求。

【发明内容】

因此，本实用新型的目的在于提供一种探针握具，利用该探针握具，探针头间距可作无段调整，可在印刷电路板内作微量阻抗的测量，探针头间距可作无段调整，而来微调到最适合的间距来做测量，使用者可自行维修更换刚性探针。

为达成上述目的，本实用新型的探针握具，用于固定刚性探针并可调整探针头间距做无段测量，该探针握具包括：

一本体，其内设有一容设空间，该本体内壁为一锥形结构，该锥形结构的锥底之两侧各设有一开孔，该锥形结构的锥顶为一开放结构；

二弹性体，其分别贴设而固定于上述本体内壁相对立之两侧；

二刚性探针，其分别贴设于上述一弹性体上，各刚性探针包括一转动端和一探针头，各转动端分别设于上述一开孔内，各刚性探针远离转动端一端设有该探针头，各探针头伸出上述锥顶；

一推进体，其包括一推进柱、一推进板，该推进柱穿设于上述本体之锥底的中间部位而深入上述容设空间，该推进板中间部位固定于上述推进柱深入容设空间的一端，该推进板两端分别抵持于上述一刚性探针之内侧。

相较于现有技术，利用该探针握具，探针头间距可作无段调整，而来微调到最适合的间距来做测量，可在印刷电路板内作微量阻抗的测量，使用者可自行维修更换刚性探针。

为对本实用新型的目的、构造特征及其功能有进一步的了解，兹配合附图详细说明如下：

【附图说明】

图1绘示本实用新型的探针握具的一较佳实施例的第一状态剖示图。

图2绘示为在图1的基础上推进板上行的第二状态剖示图。

【具体实施方式】

请共同参阅图1、图2，其分别绘示本实用新型的探针握具的一较佳实施例的第一状态剖示图、在图1的基础上推进板上行的第二状态剖示图。

本实用新型的探针握具，用于固定刚性探针3并可调整探针头30间距做无段测量，该探针握具包括：

一本体1，其内设有一容设空间10，该本体1内壁为一锥形结构，该锥形结构的锥底之两侧各设有一开孔11，该锥形结构的锥顶为一开放结构；

二弹性体2，其分别贴设而固定于上述本体1内壁相对立之两侧；

二刚性探针3，其分别贴设于上述一弹性体2上，各刚性探针3包括一转动端31和一探针头30，各转动端31分别设于上述一开孔11内，各刚性探针3远离转动端31一端设有该探针头30，各探针头30伸出上述锥顶；

一推进体4，其包括一推进柱41、一推进板40，该推进柱41穿设于上述本体1之锥底的中间部位而深入上述容设空间10，该推进板40中间部位固定于上述推进柱41深入容设空间10的一端，该推进板40两端分别抵持于上述一刚性探针3之内侧。

通过推进上述推进体4，使得弹性体2被压缩，从而达到刚性探针3的探针头30间距加大；而通过回撤上述推进体4，使得弹性体2被释放，从而达到刚性探针3的探针头30间距减小。

于本实施例，上述弹性体2为泡绵，如此可以通过泡绵压缩和释放达到探针头30间距更好的调节；上述推进体4于推进柱41远离推进板40一端还设有一柄43，如此可以方便手操作而使推进体4运动；上述推进柱41为一螺杆，而该推进体4还包括一螺母固定座42，该螺母固定座42固定于上述本体1内锥底的中间部位而套设于上述螺杆上，通过螺杆在螺母固定座42内的旋动达到推进体4推进和回撤的目的。

相较于现有技术，利用该探针握具，探针头30间距可作无段调整，可在印刷电路板内微调到最适合的间距做微量阻抗的测量，使用者可自行维修更换刚性探针3。