[发明专利]一种校对真空设备温度的方法

说明书

技术领域

本发明属于真空设备温度校对技术领域，特别涉及一种校对真空设备温度的方法。 

背景技术

对于材料制备而言，温度参数的可重复性和准确性具有重要意义，常规的温度测量是用热电偶或红外测温，但由于不可预测因素引起热电偶位置发生变化，温度参数发生漂移，影响试验进展或产品质量不稳定。通常采用两个热电偶相互比对的方法确定设备温度参数。但热电偶读数与热电偶装配位置等因素有关，其本身是一相对数值，而且很难确保每次校对时能严格重复热电偶的位置。因此，这种方法确定设备温度具有一定的局限性，会影响设备温度的重复性和准确性。 

发明内容

本发明的目的是提供一种校对真空设备温度的方法。 

一种校对真空设备温度的方法，其特征在于，该方法步骤为， 

(1)选择一种金属，制备直径为5～10mm、厚度为0.5～1mm的标准试样； 

(2)将标准试样放置在加热器正中间，抽真空，背底真空达到5.0×10^-3Pa时，以20～40℃/s的升温速率加热，通过观察窗观察标准试样状态变化，当观察到标准试样熔化时，读取热电偶示数T1，随后将标准试样冷却； 

(3)设定升温速率，先以20～40℃/s的升温速率升温至T1以下30℃，然后以1℃/s的升温速率升温，观察标准试样状态，当标准试样熔化时读取热电偶示数T0，随后将标准试样冷却； 

(4)改变真空设备热电偶位置，重复步骤(3)操作，当标准试样熔化时读取热电偶示数T2； 

(5)改变真空设备热电偶位置后，真空设备温度坐标平移T2-T0，热电偶读数为T时，对应原温度坐标下的温度T3＝T-(T2-T0)。 

所述金属包括锌、铝、铅或镧。 

本发明的有益效果为： 

本发明利用晶体熔点固定这一晶体物理特性，通过测定晶体的熔点，提供一种准确校对真空设备温度的方法，可以避免每次严格重复热电偶的位置。 

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步说明： 

实施例1 

一种校对真空设备温度的方法，该方法步骤为， 

(1)制备标准试样，制备标准试样可以避免其它因素对测量结果的干扰，本设备加热器尺寸为 最高温度800℃，使用温度600℃，选择纯度为99.9％的铸态Zn做为标准试样原材料，标准试样尺寸：直径 为5mm、厚度为1mm。 

(2)将标准试样放置在加热器正中间，抽真空，背底真空达到5.0×10^-3Pa(可以避免标准试样表面因氧化或氮化对试验结果产生影响，并可以避免气压变化对熔点的影响)时，以20℃/s的升温速率加热，通过观察窗观察标准试样状态变化，当观察到标准试样熔化时，读取热电偶示数T1＝490℃，随后将标准试样冷却； 

(3)设定升温速率，先以20℃/s的升温速率升温至460℃，然后以1℃/s的升温速率升温，观察标准试样状态，当标准试样熔化时读取热电偶示数T0＝481℃(通过缓慢升温避免升温速率不同造成标样熔化温度不同)，随后将标准试样冷却； 

(4)改变设备热电偶位置，设定升温速率，先以20℃/s的升温速率升温至460℃，然后以1℃/s的升温速率升温，观察标准试样状态，当标准试样熔化时读取热电偶示数T2＝490℃，随后将标准试样冷却； 

(5)改变设备热电偶位置后，设备温度坐标平移T2-T0＝9℃，热电偶读数为T时，对应原温度坐标下的温度T3＝T-(T2-T0)＝(T-9)℃。 

因为金属的熔点不变，可以得知，改变设备热电偶位置后热电偶的读数T2等价于未改变热电偶位置时热电偶的读数T0，即改变设备热电偶位置后设备温度坐标平移T2-T0＝9℃，则改变设备热电偶位置后热电偶读数为T时，对应原温度坐标(未改变热电偶位置)下的温度为(T-9)℃。 

实施例2 

一种校对真空设备温度的方法，该方法步骤为， 

(1)制备标准试样。制备标准试样可以避免其它因素对测量结果的干扰，本设备加热器尺寸为 60mm，最高温度800℃，使用温度600℃，选择纯度为99.9％的铸态Al做为标准试样原材料，标准试样尺寸：直径 为5mm、厚度为1mm； 

(2)将标准试样放置在加热器正中间，抽真空，背底真空达到5.0×10^-3Pa时，以20℃/s的升温速率加热，通过观察窗观察标准试样状态变化，当观察到标准试样熔化时，读取热电偶示数T1＝726℃，随后将标准试样冷却；