[发明专利]一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法

权利要求书

1.一种RFID标签工作电平的基准测试系统，其特征在于：包括 标准测试环境(1)、待测标签支架(2)、收发天线支架(3)、参考天 线支架(4)、收发天线(5)、环形器(6)、频谱分析仪(7)、RFID 信号发生器(8)、参考天线(9)和功率计(10)，其中：

待测标签支架(2)、收发天线支架(3)、参考天线支架(4)、收 发天线(5)、参考天线(9)置于标准测试环境内(1)；

环形器(6)、频谱分析仪(7)、RFID信号发生器(8)、功率计 (10)置于标准测试环境外；

收发天线(5)与环行器(6)、参考天线(9)与功率计(10)分 别通过射频馈线相连；

环行器(6)与RFID信号发生器(8)相连，环行器(6)单向传 递RFID信号发生器(8)发来的射频信号至收发天线(5)；

环行器(6)与频谱分析仪(7)相连，将收发天线(5)传回的射 频信号单向传递到频谱分析仪(7)；

收发天线(5)垂直固定在收发天线支架(3)上方，参考天线(9) 垂直固定于参考天线支架(3)上方，收发天线(5)、参考天线(9) 的辐射面几何中心位置的延长线交于待测标签支架(2)的顶点，并且 收发天线(5)到参考天线(9)与收发天线(5)到待测标签支架(2) 的顶点的水平距离相等。

2.根据权利要求1所述的RFID标签工作电平的基准测试系统， 其特征在于：所述待测标签支架(2)、收发天线支架(3)和参考天线 支架(4)采用传导率低且介电常数小于1.5的材料。

3.根据权利要求1所述的RFID标签工作电平的基准测试系统， 其特征在于：所述收发天线(5)，是在测试带宽范围内E平面和H平 面方向图为左右对称的线性极化宽带全向天线。

4.根据权利要求1所述的RFID标签工作电平的基准测试系统， 其特征在于：所述参考天线(9)，是增益在10dBi以上的标准增益喇 叭天线，在测试带宽范围内，参考天线的增益基本保持不变。

5.根据权利要求1所述的RFID标签工作电平的基准测试系统， 其特征在于：所述频谱分析仪(7)是能够记录并显示无线信号瞬时波 形的仪器。

6.根据权利要求1所述的RFID标签工作电平的基准测试系统， 其特征在于：所述RFID信号发生器(8)是能够以预设频率和预设功 率发射RFID读写器信号的仪器。

7.根据权利要求1所述的RFID标签工作电平的基准测试系统， 其特征在于：所述功率计(10)是能够测量某个预设频点在一段时间 内的最大功率的仪器。

8.根据权利要求1所述的RFID标签工作电平的基准测试系统， 其特征在于：所述环形器(6)、频谱分析仪(7)、RFID信号发生器

(8)和功率计(10)的射频接口和电源接口发出的电磁辐射不对标准 测试环境内的电磁环境造成改变。